F50 - mesure de couche mince

F50 - Systèmes de mesure de couches minces


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L’épaisseur et les constantes optiques (n et k) sont facilement et rapidement mesurées grâce au système de réflectance avancée F-50. Le plateau motorisé R-0 avance automatiquement vers les points de mesure sélectionnés et donne accès aux mesures d’épaisseur en quelques secondes. Choisissez parmi une douzaine de motifs polaires, rectangulaires ou linéaires ou créez le votre sans limite de points de mesure. L’initialisation du système entier est faite en quelques minutes et peut être utilisé par n’importe qui ayant des compétences informatiques basiques.

Caractéristiques :
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Applications :
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