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Instruments Analyse de Surface

ScienTec propose du matériel d'analyse de surface pour visualiser et mesurer diverses propriétés. Elles concernent  l'état de surface, les propriétés mécanique, chimiques, électriques, optiques, de contrainte, l'épaisseur ou encore la rugosité sous différents environnements ;  sous vide, ambiant ou sous atmosphère contrôle… Les analyses couvrent un large grossissement allant de l'échelle atomique jusqu'à quelques millimètres.

Microscopie Électronique à Balayage

Microscope-electronique-balayage

Coxem propose une large gamme de microscope électronique à balayage.

 

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  • MEB Standard >
  • Accessoires >

Microscopie à Force Atomique

Microscopes-force-atomique.

CSInstruments, fabriquant de microscope AFM, offre de nombreuses solutions :

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  • Pointes AFM >

Profilométrie Optique

Profilometre-optique

Holographie digitale, confocal, interféromètre. Découvrez nos solutions avec les gammes de KLA , LyncéeTec et Filmetrics...

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Profilométrie Mécanique

Profilometre-mecanique-kla-panorama2

KLA Tencor et Toho Technology proposent une large gamme de produits permettant la mesures de profil avec contact par balayage d’un stylet...

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Mesure de Couches Minces

Couches-minces..

Filmetrics/ KLA propose des solution en simple/multiple mesures, en ligne, adaptée sur microscope ou in-situ. Du nm au mm d’épaisseur mesurable...

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Nano
Indentation

Nanoindenteur.

KLA propose une large gamme de Nanoindenteurs du système sous vide ou ambiant en passant par le modèle in-situ...

  • Nanoindenteurs
  • Environnements
  • Machine de Test Universel

En savoir plus >

 

Systèmes
Sous-Vide

Systeme-sous-vide.

Prevac offre une large gamme d'équipements sous vide et ultra vide.

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Spectroscopies
IR & RAMAN

Spectroscopie-ir.

Photothermal Spectroscopy Corp pionnier de la spectroscopie infrarouge submicronique et S&I spécialiste en solution RAMAN, propose une gamme d'équipements spécialisées...

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Nettoyeurs Plasma

Tergeo plus plasma cleaner s

Solutions de nettoyage plasma pour le contrôle de la contamination.

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