Mesure ponctuelle

F20

F20

1. Configuration simple dès 10 000€
2. 10Å à 10mm
3. Mesure rapide
4. Large plage de mesure

Les F20, F10 et F3 sont des instruments de mesure d'épaisseur de film à usage général et sont utilisés dans des milliers d'applications dans le monde entier. L'épaisseur et l'indice de réfraction peuvent être mesurés en moins d'une seconde. Comme tous nos instruments de mesure d'épaisseur, le F20 se connecte au port USB de votre ordinateur Windows® et s'installe en quelques minutes.

  • Série F20 : Solution polyvalente parfaitement adaptée à la R&D et au contrôle qualité.
  • Série F10 : Principalement dédiée à la mesure de réflectance (spectre). Évolution possible vers la mesure de couche mince.
  • Série F3 :  Design simple et compact permettant la mesure sur site.

Réfléctométrie

F40

F40 :
Adaptable sur microscope >>

F50

F50 :
Cartographie automatisée >>

Inline-monitoring-f30

F30 :
Multi sites/ In-Situ >>

Icon_Scientec

Besoin d'un conseil ?

Contactez-nous >>

 

Applications Caractéristiques Accessoires Spécifications
Icon_Scientec

Envoyez-nous vos échantillons

Applications 

  • Films semi-conducteurs

    • Photoresist
    • Traitement de films
    • Diélectriques
  • Revêtement optique

    • Épaisseur de couche dure
    • Revêtement anti-reflets
  • Ecrans

    • Oled
    • Épaisseur du verre
    • ITO & autres TCOs
  • Biomédical

    • Parylène
    • Équipement médical
Oled image
Medical devices image
Photoresist image
Process film image

Plus d'info sur les applications

- Amorphe et polysilicium
- Diélectriques
- Épaisseur dure
- Analyse d'échec IC
- ITO et autres TCO
- Équipement médical
- Épaisseur du métal
- Microfluidique
- OLED
- Revêtements ophtalmiques
- Parylene Coatings
- Photoresist
- Silicium poreux
- Films de traitement
- Indice de réfraction & k
- Plaquettes et membranes de silicium
- Applications solaires
- Laboratoires d'enseignement sur les semi-conducteurs
- Rugosité et finition de surface

De 10Å à 10mm

Ce qui est inclus
  • Filtre aplatissant (pour les substrats hautement réfléchissants)
  • Spectromètre intégré / source de lumière
  • Logiciel FILMeasure 8
  • Logiciel autonome FILMeasure pour l'analyse de données à distance
  • Platine d'échantillonnage SS-3 avec câble à fibres optiques
  • Normes de réflectance
  • Épaisseur standard
  • Lampe de rechange TH-1
Avantages supplémentaires
  • Bibliothèque avec plus de 130 matériaux inclus avec chaque système, avec accès à 100 autres
  • Ingénieurs d'applications disponibles pour une assistance immédiate 24 heures sur 24 (lundi à vendredi)
  • Support en ligne "Hands On"
  • Programme de mise à niveau du matériel
Screenshot f20 med-large

AVANTAGES

- Configuration simple dès 10 000€
- 10Å à 10mm
- Mesure rapide
- Large plage de mesure

 

Accessoires

Samplecam

SampleCam

Stagebase

StageBase-XY10-Auto-100mm

Multi-value

Multi-value thickness standard

Nist

NIST-traceable thickness standard

Contact-probe

Contact probe

Carrying

Carrying case

Specifications

Model Specifications 

Model Thickness Range* Wavelength Range
F20 15nm - 70µm 380-1050nm
F20-EXR 15nm - 250µm 380-1700nm
F20-NIR 100nm - 250µm 950-1700nm
F20-UV 1nm - 40µm 190-1100nm
F20-UVX 1nm - 250µm 190-1700nm
F20-XT 0.2µm - 450µm 1440-1690nm
F3-sX Series 10µm- 3mm 960-1580nm

*film stack dependent

Thickness Range*

Thickness range

Contactez-nous pour plus d'informations sur ce produit

Vous souhaitez un devis ?
Des informations complémentaires ?

Nous vous répondrons dans un délai de 24h