Réflectomètres Adaptable sur microscope
F40
1. Spot aussi petite que 1 micron
2. Connexion au microscope simple
3. Surveillance précise du point de mesure
4. Large plage de mesure
La famille de produits F40 est destinée aux applications nécessitant une taille de spot aussi petite que 1 micron. Pour la plupart des microscopes, le F40 se connecte simplement à l'adaptateur Cmount, qui est la norme du secteur pour le montage de caméras vidéo.
Le F40 est livré avec une caméra vidéo couleur intégrée qui permet une surveillance précise du point de mesure de l'épaisseur du film. L'épaisseur et l'indice peuvent être mesurés en moins d'une seconde. Comme tous nos instruments de mesure d'épaisseur de film de table, le F40 se connecte au port USB de votre ordinateur Windows® et s'installe en quelques minutes.
Applications
- Fabrication de semi-conducteurs
- Résine photosensible
- Oxydes / nitrures
- Si et autres films semi-conducteurs
- Résine photosensible
- Mems
- Photoresist
- Membranes de silicium
- Filtres à couche mince AIN / ZnO
- Photoresist
- Dispositifs biomédicaux
- Couches polymère / parylène
- Épaisseur de paroi de la membrane / du ballon
- Revêtement de médicament sur les implants
- Couches polymère / parylène
- Affichage à cristaux liquides
- Lacunes cellulaires
- Polyamide
- ITO
- Lacunes cellulaires
Plus d'info sur les applications
- Diélectriques
- Épaisseur dure
- Analyse d'échec IC
- ITO et autres TCO
- Équipement médical
- Épaisseur du métal
- Microfluidique
- OLED
- Revêtements ophtalmiques
- Parylene Coatings
- Photoresist
- Silicium poreux
- Films de traitement
- Indice de réfraction & k
- Plaquettes et membranes de silicium
- Applications solaires
- Laboratoires d'enseignement sur les semi-conducteurs
- Rugosité et finition de surface
Idéal pour la mesure de motifs ou de films ultra fins
Ce qui est inclus
- Spectromètre intégré / source de lumière
- Logiciel FILMeasure 8
- Logiciel autonome FILMeasure pour l'analyse de données à distance
- Adaptateur de microscope MA-Cmount avec raccord Cmount
- Câble de raccordement de fibre optique
- Norme de réflectance BK7
- TS-Focus-SiO2-4-10000 norme / épaisseur standard
- BG-Microscope pour prendre la base de référence
Avantages supplémentaires
- Bibliothèque avec plus de 130 matériaux inclus avec chaque système, avec accès à 100 autres
- Ingénieurs d'applications disponibles pour une assistance immédiate 24 heures sur 24 (lundi à vendredi)
- Support en ligne "Hands On"
- Programme de mise à niveau du matériel
AVANTAGES
- Spot aussi petite que 1 micron
- Connexion au microscope simple
- Surveillance précise du point de mesure
- Large plage de mesure
Accessoires
SS-Microscope-EXR-1
SS-Microscope-EXR-1
StageBase-XY10-Auto-100mm
NIST-traceable thickness standard
Multi-value thickness standard
Specifications
Model Specifications
| Model | Thickness Range* | Wavelength Range |
|---|---|---|
| F40 | 20nm - 40µm | 400-850nm |
| F40-UV | 4nm - 40µm | 190-1100nm |
| F40-EXR | 20nm - 150µm | 400-1700nm |
| F40-NIR | 100nm - 120µm | 950-1700nm |
| F40-UVX | 4nm - 120µm | 190-1700nm |
| F40-XT | 0.4µm - 250µm | 1440-1690nm |
*film stack dependent
Thickness Range*
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