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Vous êtes ici : Accueil > Produits > Réflectomètres Adaptable sur microscope

Réflectomètres Adaptable sur microscope

F40-large

F40

1. Spot aussi petite que 1 micron
2. Connexion au microscope simple
3. Surveillance précise du point de mesure
4. Large plage de mesure

La famille de produits F40 est destinée aux applications nécessitant une taille de spot aussi petite que 1 micron. Pour la plupart des microscopes, le F40 se connecte simplement à l'adaptateur Cmount, qui est la norme du secteur pour le montage de caméras vidéo.

Le F40 est livré avec une caméra vidéo couleur intégrée qui permet une surveillance précise du point de mesure de l'épaisseur du film. L'épaisseur et l'indice peuvent être mesurés en moins d'une seconde. Comme tous nos instruments de mesure d'épaisseur de film de table, le F40 se connecte au port USB de votre ordinateur Windows® et s'installe en quelques minutes.

Réfléctométrie

F20

F20 :
Mesure ponctuelle >>

F50

F50 :
Cartographie automatisée >>

Inline-monitoring-f30

F30 :
Multi sites/ In-Situ >>

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Applications Caractéristiques Accessoires Spécifications
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Applications 

  • Fabrication de semi-conducteurs

    • Résine photosensible
    • Oxydes / nitrures
    • Si et autres films semi-conducteurs 
  • Mems

    • Photoresist
    • Membranes de silicium
    • Filtres à couche mince AIN / ZnO 
  • Dispositifs biomédicaux

    • Couches polymère / parylène
    • Épaisseur de paroi de la membrane / du ballon
    • Revêtement de médicament sur les implants 
  • Affichage à cristaux liquides

    • Lacunes cellulaires
    • Polyamide
    • ITO
Photoresist image
Medical devices image
Process film image
Oled image

Plus d'info sur les applications

- Amorphe et polysilicium
- Diélectriques
- Épaisseur dure
- Analyse d'échec IC
- ITO et autres TCO
- Équipement médical
- Épaisseur du métal
- Microfluidique
- OLED
- Revêtements ophtalmiques
- Parylene Coatings
- Photoresist
- Silicium poreux
- Films de traitement
- Indice de réfraction & k
- Plaquettes et membranes de silicium
- Applications solaires
- Laboratoires d'enseignement sur les semi-conducteurs
- Rugosité et finition de surface

Idéal pour la mesure de motifs ou de films ultra fins

Ce qui est inclus

  • Spectromètre intégré / source de lumière
  • Logiciel FILMeasure 8
  • Logiciel autonome FILMeasure pour l'analyse de données à distance
  • Adaptateur de microscope MA-Cmount avec raccord Cmount
  • Câble de raccordement de fibre optique
  • Norme de réflectance BK7
  • TS-Focus-SiO2-4-10000 norme / épaisseur standard
  • BG-Microscope pour prendre la base de référence 

Avantages supplémentaires

  • Bibliothèque avec plus de 130 matériaux inclus avec chaque système, avec accès à 100 autres
  • Ingénieurs d'applications disponibles pour une assistance immédiate 24 heures sur 24 (lundi à vendredi)
  • Support en ligne "Hands On"
  • Programme de mise à niveau du matériel
Screenshot f40 vid med-large

AVANTAGES

- Spot aussi petite que 1 micron
- Connexion au microscope simple
- Surveillance précise du point de mesure
- Large plage de mesure

 

Accessoires

Ss-microscope

SS-Microscope-EXR-1

Ss-microscope

SS-Microscope-EXR-1

Stagebase

StageBase-XY10-Auto-100mm

Nist

NIST-traceable thickness standard

Multi-value

Multi-value thickness standard

Specifications

Model Specifications 

Model Thickness Range* Wavelength Range
F40 20nm - 40µm 400-850nm
F40-UV 4nm - 40µm 190-1100nm
F40-EXR 20nm - 150µm 400-1700nm
F40-NIR 100nm - 120µm 950-1700nm
F40-UVX 4nm - 120µm 190-1700nm
F40-XT 0.4µm - 250µm 1440-1690nm

*film stack dependent

Thickness Range*

Thickness range f40

Contactez-nous pour plus d'informations sur ce produit

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Nous vous répondrons dans un délai de 24h

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