Polisseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Métalliseur pour échantillon MEB SPT-20 1. Facile d’utilisation 2. Interface digitale 3. Adaptation à chacun des échantillons Les échantillons non conducteurs ont souvent un effet de charge dû à l’accumulation d’électrons à la surface, ce qui pose des problèmes pour la collecte d’une bonne image. Bien que le mode «low vacuum» ou «réduction de charge» […]
Microscopes électroniques à balayage standard Série CX-200 1. Interface utilisateur intuitive 2. Fonctions automatiques complète (axes X, Y, R, T, Z) ou en partie manuelle 3. La grande chambre peut accueillir jusqu’à 160 mm (W) * 55 mm (H) 4. Grossissement de x 300 000 (Résolution de 20nm à 30kV) 5. Remplacement rapide d’un échantillon […]
Microscopes électroniques à balayage de table Série EM-30 1. Interface utilisateur intuitive 2. Fonctions automatiques – Support échantillon motorisé selon 3 axes (X, Y, T) – Mise au point automatique, contraste, luminosité, alignement du canon à électron 3. Taille maximum d’échantillon jusqu’à 70mm en diamètre et 45mm en hauteur 4. Grossissement de x20 à x150 […]
Microscope DHM – Science de la vie DHM Série T 1. Non invasif 2. Étudier les processus biologiques inexplorés 3. Effectuer une imagerie multimodale 4. Profilomètre optique configuré en transmission 5. Étudier des matériaux et des dispositifs innovants Transmission DHM® mesure la différence de chemin optique d’un faisceau traversant des échantillons. Pour les mesures […]
Microscope DHM – Science des matériaux DHM Série R 1. Balayage non contact 2. Profilométrie 3D à une vitesse inégalée 3. Analyse MEMS, jusqu’à 25 MHz 4. Mesurer dans des conditions environnementales contrôlées 5. Mesurer la topographie de motifs transparents Les séries Reflection DHM (DHM®-R1000, DHM®-R2100 et DHM®-R2200) sont des microscopes holographiques configurés en réflexion. […]
Profilomètre pour la mesure de contrainte FLX 2320 S 1. Pour l’industrie 2. Production en série 3. Mesure de contrainte de couches minces 4. Température de -65°C à 500°C 5. Rapide Les systèmes de mesure de contrainte en couche mince Toho FLX-2320-S offrent des capacités standard de l’industrie pour les installations de production en série […]
Profilomètre optique pour l’industrie MicroXAM 800 1. Pour l’industrie 2. Mesure Automatisée sur plusieurs sites 3. Lumière blanche VSI & PSI 4. Interférométriques : lumière blanche VSI – Nomarski – PSI 5. Simple et flexible Le MicroXAM-800 est un profileur optique basé sur un interféromètre en lumière blanche qui mesure les caractéristiques de niveau nanomètre avec interférométrie à […]
Profilomètre optique automatisé, grand échantillon Zeta-388 1. Pour l’industrie 2. Mesure Automatisée 3. Topographie 3D haute résolution en couleur même sur échantillon transparent 4. Interférométriques : lumière blanche VSI – Nomarski – PSI 5. Épaisseur de couches minces transparentes Le Zeta-388 offre une capacité de métrologie et d’imagerie 3D, combiné à une table d’isolation intégrée et à un […]
Profilomètre Optique pour la R&D Zeta-20 1. Polyvalence et Performance 2. Mesure Ponctuelle 3. Topographie 3D haute résolution en couleur même sur échantillon transparent 4. Interférométriques : lumière blanche VSI – Nomarski – PSI 5. Épaisseur de couches minces transparentes Le Zeta-20 est un profilomètre optique entièrement intégré qui fournit une métrologie 3D et une capacité d’imagerie dans […]
Profilomètre Optique au meilleur rapport qualité/prix Profilm3D 1. Résolution verticale sub-nanométrique avec balayage piézoélectrique 500µm 2. Interférométrie à balayage vertical (VSI) et à déphasage (PSI) 3. Logiciel d’analyses avancées 4. Platine motorisée 5. Détection objectif 6. Facile d’utilisation 7. Fonction Stiching Enfin, les mesures de la rugosité de surface et de la topographie peuvent être […]
Standards Calibration – Marche étalon Nanuler Calibration Standard Cette grille de calibration polyvalente est conçue pour l’étalonnage de microscopes AFM, MEB et les profilomètres optiques et mécaniques. Les caractéristiques comprennent les hauteurs des marches, les lignes, les grilles, la boîte de grossissement et les structures de mesure de structures. Les caractéristiques sont gravées dans SiO2 […]