Pointes AFM Large gamme de pointes AFM ScienTec distribue une large gamme de pointes SPM pour la plupart des applications AFM à un prix abordable. Nous tirons parti de notre expérience en AFM pour fournir des pointes de la plus haute qualité en utilisant les dernières technologies du marché. Contact Non Contact Conductives EFM/MFM Diamand […]
EDS : Mesure quantitative des éléments Oxford EDS – Ultim® Max EDS with AZtecLive La série Oxford Ultim® Max EDS d’Oxford Instruments est disponible en tailles de détecteurs de 40, 65, 100 ou 170 mm² pour le SEM CX-200plus complet utilisant la célèbre plateforme logicielle AZtecLive d’Oxford pour la micro-analyse élémentaire simple ou avancée. La plate-forme […]
Polisseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Métalliseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Microscopes électroniques à balayage standard CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement […]
Microscopes électroniques à balayage de table CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – […]
Microscope DHM – Science de la vie Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface […]
Microscope DHM – Science des matériaux Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un […]
Profilomètre pour la mesure de contrainte Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un […]
Profilomètre optique pour l’industrie Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – […]
Profilomètre optique automatisé, grand échantillon Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon […]
Profilomètre Optique pour la R&D Specifications MEB Standard 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon […]