Environnements AFM Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM 1. Contrôle de l’environnement : Gaz, humidité 2. Milieu liquide : Pas d’ajustement supplémentaire 3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Modes électriques avancés : HD-KFM, ResiScope, sMIM >> Pointes AFM : Avec ou […]
Modes électriques avancés pour AFM Uniquement disponible avec le Nano-Observer AFM 1. HD-KFM : High Definition Kelvin Force Microscopy 2. ResiScope II :Courant/ Resistance sur 10 décades 3. Soft ResiScope : ResiScope sur échantillons délicats 5. sMIM : Cartographie permittivité et conductivité au nm Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Environnements : […]
Pointes AFM Large gamme de pointes AFM ScienTec distribue une large gamme de pointes SPM pour la plupart des applications AFM à un prix abordable. Nous tirons parti de notre expérience en AFM pour fournir des pointes de la plus haute qualité en utilisant les dernières technologies du marché. Contact Non Contact Conductives EFM/MFM Diamand […]
EDS : Mesure quantitative des éléments Oxford EDS – Ultim® Max EDS with AZtecLive La série Oxford Ultim® Max EDS d’Oxford Instruments est disponible en tailles de détecteurs de 40, 65, 100 ou 170 mm² pour le SEM CX-200plus complet utilisant la célèbre plateforme logicielle AZtecLive d’Oxford pour la micro-analyse élémentaire simple ou avancée. La plate-forme […]
Polisseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Métalliseur pour échantillon MEB SPT-20 1. Facile d’utilisation 2. Interface digitale 3. Adaptation à chacun des échantillons Les échantillons non conducteurs ont souvent un effet de charge dû à l’accumulation d’électrons à la surface, ce qui pose des problèmes pour la collecte d’une bonne image. Bien que le mode «low vacuum» ou «réduction de charge» […]
Microscopes électroniques à balayage standard Série CX-200 1. Interface utilisateur intuitive 2. Fonctions automatiques complète (axes X, Y, R, T, Z) ou en partie manuelle 3. La grande chambre peut accueillir jusqu’à 160 mm (W) * 55 mm (H) 4. Grossissement de x 300 000 (Résolution de 20nm à 30kV) 5. Remplacement rapide d’un échantillon […]
Microscopes électroniques à balayage de table Série EM-30-N 1. Interface utilisateur intuitive 2. Fonctions automatiques – Support échantillon motorisé selon 3 axes (X, Y, T) – Mise au point automatique, contraste, luminosité, alignement du canon à électron 3. Taille maximum d’échantillon jusqu’à 70mm en diamètre et 45mm en hauteur 4. Grossissement de x20 à x150 […]
Microscope DHM – Science de la vie DHM Série T 1. Non invasif 2. Étudier les processus biologiques inexplorés 3. Effectuer une imagerie multimodale 4. Profilomètre optique configuré en transmission 5. Étudier des matériaux et des dispositifs innovants Transmission DHM® mesure la différence de chemin optique d’un faisceau traversant des échantillons. Pour les mesures […]
Microscope DHM – Science des matériaux DHM Série R 1. Balayage non contact 2. Profilométrie 3D à une vitesse inégalée 3. Analyse MEMS, jusqu’à 25 MHz 4. Mesurer dans des conditions environnementales contrôlées 5. Mesurer la topographie de motifs transparents Les séries Reflection DHM (DHM®-R1000, DHM®-R2100 et DHM®-R2200) sont des microscopes holographiques configurés en réflexion. […]
Profilomètre pour la mesure de contrainte FLX 2320 S 1. Pour l’industrie 2. Production en série 3. Mesure de contrainte de couches minces 4. Température de -65°C à 500°C 5. Rapide Les systèmes de mesure de contrainte en couche mince Toho FLX-2320-S offrent des capacités standard de l’industrie pour les installations de production en série […]
Profilomètre optique pour l’industrie MicroXAM 800 1. Pour l’industrie 2. Mesure Automatisée sur plusieurs sites 3. Lumière blanche VSI & PSI 4. Interférométriques : lumière blanche VSI – Nomarski – PSI 5. Simple et flexible Le MicroXAM-800 est un profileur optique basé sur un interféromètre en lumière blanche qui mesure les caractéristiques de niveau nanomètre avec interférométrie à […]