Nanoindenteur Ambiant & Sous Vide NanoFlip 1. Conditions ambiantes, sous vide 2. Dureté, module d’young, la limite d’élasticité et autres tests nanomécaniques 3. Test in situ Le nanoindenteur NanoFlip mesure la dureté, le module, la limite d’élasticité et d’autres tests nanomécaniques dans des conditions ambiantes et sous vide. Le NanoFlip compatible avec le vide effectue […]
Machine de Test Universel NanoFlip 1. Conditions ambiantes, sous vide 2. Dureté, module d’young, la limite d’élasticité et autres tests nanomécaniques 3. Test in situ Le nanoindenteur NanoFlip mesure la dureté, le module, la limite d’élasticité et d’autres tests nanomécaniques dans des conditions ambiantes et sous vide. Le NanoFlip compatible avec le vide effectue des […]
Nanoindenteur jusqu’à 50 mN de force NanoFlip 1. Conditions ambiantes, sous vide 2. Dureté, module d’young, la limite d’élasticité et autres tests nanomécaniques 3. Test in situ Le nanoindenteur NanoFlip mesure la dureté, le module, la limite d’élasticité et d’autres tests nanomécaniques dans des conditions ambiantes et sous vide. Le NanoFlip compatible avec le vide […]
Nanoindenteur jusqu’à 1 N de force NanoFlip 1. Conditions ambiantes, sous vide 2. Dureté, module d’young, la limite d’élasticité et autres tests nanomécaniques 3. Test in situ Le nanoindenteur NanoFlip mesure la dureté, le module, la limite d’élasticité et d’autres tests nanomécaniques dans des conditions ambiantes et sous vide. Le NanoFlip compatible avec le vide […]
Nanoindenteur à l’échelle nanométrique NanoFlip 1. Conditions ambiantes, sous vide 2. Dureté, module d’young, la limite d’élasticité et autres tests nanomécaniques 3. Test in situ Le nanoindenteur NanoFlip mesure la dureté, le module, la limite d’élasticité et d’autres tests nanomécaniques dans des conditions ambiantes et sous vide. Le NanoFlip compatible avec le vide effectue des […]
Accessoires et instruments UHV Large gamme de produits sur mesure 1. Instruments 2. Manipulateurs 3. Chambres 4. Porte-échantillons 5. Accessoires 6. Électronique PREVAC est un leader mondial dans la fabrication d’instruments de recherche scientifique UHV et d’investigation sur les propriétés chimiques et physiques de surfaces semi-conductrices, de couches minces et de nano-matériels. PREVAC conçoit aussi […]
Systèmes d’analyse Famille de systèmes d’analyse 1. XPS 2. NAP-XPS 3. ARPES 4. FTIR 5. AFM 6. ISS 7. ARUPS 8. … PREVAC est un leader mondial dans la fabrication d’instruments de recherche scientifique UHV et d’investigation sur les propriétés chimiques et physiques de surfaces semi-conductrices, de couches minces et de nano-matériels. PREVAC conçoit aussi […]
Systèmes de dépôt Famille de systèmes d’analyse 1. XPS 2. NAP-XPS 3. ARPES 4. FTIR 5. AFM 6. ISS 7. ARUPS 8. … PREVAC est un leader mondial dans la fabrication d’instruments de recherche scientifique UHV et d’investigation sur les propriétés chimiques et physiques de surfaces semi-conductrices, de couches minces et de nano-matériels. PREVAC conçoit […]
Microscope Raman Confocal S&I TriVista CRS 1. Dispersion additive et soustractive 2. Résolution spectrale imbattable 3. Mesures de fréquence les plus basses jusqu’à 5 cm-1 ou moins 4. Expériences variables d’excitation-longueurs d’onde prises en charge 5. Flexibilité maximale et améliorations optionnelles Fonctionnalité Triple spectromètre / spectrographes à différentes focales – TR 555 avec focale 3 […]
Microscope Raman Confocal TriVista CRS 1. Dispersion additive et soustractive 2. Résolution spectrale imbattable 3. Mesures de fréquence les plus basses jusqu’à 5 cm-1 ou moins 4. Expériences variables d’excitation-longueurs d’onde prises en charge 5. Flexibilité maximale et améliorations optionnelles Fonctionnalité Triple spectromètre / spectrographes à différentes focales – TR 555 avec focale 3 x […]
Microscopie sub-µm simultanée IR et Raman Microscopie submicronique simultanée IR et Raman Le premier système de microscopie simultanée IR + Raman au monde est une plate-forme unique à double modalité qui combine tous les avantages de l’O-PTIR avec la microscopie Raman complémentaire via la détection simultanée du laser à sonde visible. Les spectres, les balayages […]
Optical Photothermal Infrared spectroscopy Microscopie submicronique simultanée IR et Raman Le premier système de microscopie simultanée IR + Raman au monde est une plate-forme unique à double modalité qui combine tous les avantages de l’O-PTIR avec la microscopie Raman complémentaire via la détection simultanée du laser à sonde visible. Les spectres, les balayages linéaires et […]