Profilomètre optique D-surface-View D-surface-View 1. Inspection locale et globale du mm au nm 2. Mesure en une seule acquisition 3. À l’échelle nanométrique D-Surface View est destiné à aider les fabricants de plaquettes d’un diamètre allant jusqu’à 300 mm à réduire leurs coûts et pour les fabricants de puces à améliorer les rendements des dispositifs […]
Galaxy Dual Controller Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> ResiScope II : Courant/ Resistance sur 10 décades >> Besoin d’un conseil ? Contactez-nous >> Le contrôleur GALAXY DUAL crée de nouvelles opportunités pour les utilisateurs d’AFM en combinant de nouvelles fonctionnalités avec celles déjà disponibles sur votre AFM existant. Ce nouveau contrôleur […]
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Votre Guide Microscopie MEB vous attend ! Merci ! Voici votre Guide « Comment bien choisir son MEB de table » : Votre guide ici BONUS Vous souhaitez faire un point sur les possibilités qu’offrent les microscopes MEB pour votre application ? Profitez d’un test échantillon offert ici Vous hésitez encore sur l’achat d’un MEB ? […]
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Cartographie d’épaisseur de couches-minces dédiée à la production F60 1. Dédié à la production 2. Automatisé 3. Rapide 4. Personnalisable La famille F60-t cartographie l’épaisseur et l’indice du film tout comme nos produits F50, mais elle comprend également un certain nombre de fonctionnalités destinées spécifiquement aux environnements de production. Il s’agit notamment de la recherche […]
Cartographie d’épaisseur de couches-minces automatisable – jusqu’à 200mm F54- XY-200 1. Echantillon jusqu’à 200mm de diamètre 2. Platine XY automatisée 3. Films fins, épais, rugueux et opaques L’épaisseur de couche mince sur des échantillons jusqu’à 200 mm sur 200 mm est facilement cartographiée avec le système de réflectance spectrale avancé F54-XY-200. La platine X-Y motorisée […]
Cartographie d’épaisseur de couches-minces automatisable F54 1. Échantillon jusqu’à 450 mm de diamètre 2. Aucune limite de nombre de point 3. Facile d’utilisation 4. Large gamme de longueur d’onde L’épaisseur de couche mince des échantillons jusqu’à 450 mm de diamètre est cartographiée rapidement et facilement avec le système de réflectance spectrale avancé F54. Série F50 […]
Mesure ponctuelle – Haute épaisseur F70 1. Diagnostics en ligne intégrés 2. Logiciel autonome inclus 3. Fonction d’historique sophistiquée pour enregistrer, reproduire et tracer les résultats Les F70 sont des instruments de mesure d’épaisseur à usage général capables de mesurer des épaisseurs jusqu’à 15 mm. Les applications courantes comprennent les feuilles de verre et de […]
Source Lumineuse : étalon luminance Ol 459 Source étalon à Led OL 459 à spectre programmable La source étalon à Led OL 459 est conçue pour être utilisée comme source de référence lors de l’étalonnage des caméras d’imagerie VIS et NIR, des photomètres, des colorimètres et de bien d’autres instruments optiques. L’utilisateur peut définir […]
Cartograhie de resistivité et conductivité Série R50 1. Sonde à quatre points et systèmes de sonde à courants de Foucault 2. Exemple de cartographie dans des configurations rectangulaires, linéaires, polaires et personnalisées 3. X-Y jusqu’à 200 mm 4. Mesurez une plage de dix décades de résistance de film conducteurs et semi-conducteurs 5. Mesure avec et […]