Nettoyeurs plasma Série Tergeo Nettoyeurs plasma de table série Tergeo 1. Conception intelligente et intuitive 2. Technologie de mesure quantitative du plasma 3. Modes de traitement par immersion et plasma in-situ dans un seul système 4. Fonctionnement pulsé Pourquoi choisir un nettoyant plasma de la série Tergeo Meilleure uniformité du plasma grâce à la conception […]
Nanoindenteur de précicion G200X 1. Facile d’utilisation et convivial 2. Test mécanique à l’échelle nanométrique 3. Résultats quantitatifs précis 4. Grande variété d’échantillon Le Nano Indenter G200X fournit un testeur mécanique nanométrique facile à utiliser qui fournit rapidement des résultats quantitatifs précis. Le système G200X gère une grande variété d’échantillons, des revêtements durs aux polymères […]
Microscope DHM pour l’Industrie DHM R100 & R200 1. Adapté aux applications industrielles 2. L’échantillon peut être mesuré en vol 3. Compacts et légers avec une résolution interférométrique Les séries industrielles DHM® R100 et R200 sont des profilomètres optiques 3D compacts et légers avec une résolution interférométrique. Ils peuvent être montés sur des bras de […]
Microscope DHM – Grande vitesse DHM Grande vitesse 1. Caméra haute vitesse 2. Jusqu’à 12 800 images par seconde à une résolution de mégapixels 3. Une interface logicielle dédiée et intuitive 4. Fonctionne avec 1 seule longueur d’onde et peut-être configuré en transmission ou en réflexion 5. Permet de nouvelles recherches Une nouvelle étape a […]
Analyseur de couleur et puissance lumineuse Du visible au proche IR eFLAT-III : Jusqu’à 200 canaux via des modules en cascade 1. Multicanaux ultra compact 2. Options de communication (Ethernet / série et interface numérique) 3. Plage de mesure du visible jusqu’au proche infrarouge 4. Facilité d’utilisation 5. Sensibilité 35 à 3.300.000 Lux Les […]
Analyseur de couleur et puissance lumineuse LED et écrans eFLAT/ HG : Tests plus fiables et plus rapides des diodes électroluminescentes avec une précision des mesures en laboratoire pouvant être transférée à la production. 1. Test rapide, parallèle et automatique 2. Couleur et intensité des LED et écrans… 3. Tout le spectre du visible 4. […]
Environnements AFM Toujours plus de possibilités avec le Nano-Observer AFM 1. Contrôle de l’environnement : Gaz, humidité 2. Milieu liquide : Pas d’ajustement supplémentaire 3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Modes électriques avancés : HD-KFM, ResiScope, sMIM >> Pointes AFM : Avec ou […]
Modes électriques avancés pour AFM Uniquement disponible avec le Nano-Observer AFM 1. HD-KFM : High Definition Kelvin Force Microscopy 2. ResiScope II :Courant/ Resistance sur 10 décades 3. Soft ResiScope : ResiScope sur échantillons délicats 5. sMIM : Cartographie permittivité et conductivité au nm Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> Environnements : […]
Pointes AFM Large gamme de pointes AFM ScienTec distribue une large gamme de pointes SPM pour la plupart des applications AFM à un prix abordable. Nous tirons parti de notre expérience en AFM pour fournir des pointes de la plus haute qualité en utilisant les dernières technologies du marché. Contact Non Contact Conductives EFM/MFM Diamand […]
EDS : Mesure quantitative des éléments Oxford EDS – Ultim® Max EDS with AZtecLive La série Oxford Ultim® Max EDS d’Oxford Instruments est disponible en tailles de détecteurs de 40, 65, 100 ou 170 mm² pour le SEM CX-200plus complet utilisant la célèbre plateforme logicielle AZtecLive d’Oxford pour la micro-analyse élémentaire simple ou avancée. La plate-forme […]
Polisseur pour échantillon MEB CP-8000 1. Polisseur ionique 2. Préparation de types d’échantillons 3. Préserve les structures 4. Facile d’utilisation Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d’échantillons au MEB utilise un faisceau d’ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d’un échantillon – littéralement des […]
Métalliseur pour échantillon MEB SPT-20 1. Facile d’utilisation 2. Interface digitale 3. Adaptation à chacun des échantillons Les échantillons non conducteurs ont souvent un effet de charge dû à l’accumulation d’électrons à la surface, ce qui pose des problèmes pour la collecte d’une bonne image. Bien que le mode «low vacuum» ou «réduction de charge» […]