• Skip to primary navigation
  • Skip to content

+33 (0)1 64 53 27 00

(opens in new tab) (opens in new tab)
MENUMENU
  • Français
    • English
Scientec-slogan-300x67
  • Analyse de Surface
    • Microscopes Electronique à Balayage
    • Microscopes à Force Atomique
      • CSInstruments
        • Nano-Observer I
        • Nano-Observer II
        • Modes électriques avancés
        • Environnements
        • Pointes AFM
      • Oxford Instruments
        • MFP-3D Origin AFM
        • Cypher S AFM Microscope
        • Vero S: Interferometric AFM
        • Jupiter XR AFM
    • Microscopes SPR
      • Biosensing Instrument
    • Profilomètres Optiques
      • Profilomètres Optiques
      • Mesures Dynamiques
    • Profilomètres Mécaniques
    • Couches Minces
      • Reflectomètres et mesure d’épaisseur
      • Cartographie de résistivité/conductivité
    • NanoIndenteurs
    • Systèmes Sous Vide
      • Systèmes de dépôt
      • Systèmes d’analyse
      • Accessoires et instruments UHV
    • Spectroscopie IR et Raman
      • Infra-Rouge
      • RAMAN
    • Traitement Plasma
      • Nettoyeurs plasma
      • Systèmes de plasma sous vide
      • Systèmes de plasma atmosphérique
    • Préparation d’échantillons
      • Métalliseur pour échantillon MEB
      • Polisseur pour échantillon MEB
      • Pulvérisateurs cathodiques de table
  • Photométrie – Spectroradiométrie
    • Instruments
      • Luxmètres
      • Luxmètres – chromamètres
      • Luxmètres – spectroradiomètres
      • Photomètres
      • Photomètres – Chromamètres
      • Photomètres – Spectroradiomètres
      • Vidéo-colorimètres
      • Vidéo-photomètres
      • Analyseur d’écrans
      • Radiomètres
      • Spectroradiomètres
      • Analyseur de couleur et puissance lumineuse
      • Photogoniomètre
      • Sources Lumineuses : Étalons Éclairement
      • Sources Lumineuses : Étalons Luminance
    • Applications
      • Luminance
      • Éclairement
      • Flux lumineux
      • Intensité lumineuse
      • Tableaux de bord, avionique et automobile
      • Éclairage intérieur et extérieur
      • Ecrans LED, OLED, smartphones…
      • Projecteurs et feu de signalisation
    • Constructeurs
      • Konica Minolta
      • Optronic Laboratories
      • TechnoTeam
      • Jeti
      • Sedis
      • Premosys
  • Prestations
    • Locations – Calibration – Echantillons
    • Support et maintenance AFM
  • Formations
  • SAV
  • Société
    • ScienTec
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits

Systèmes de plasma sous vide

Systèmes de plasma sous vide Séries HPT, Nova & Nebula Systèmes de plasma sous vide 1. Pilotage numérique et traçabilité avancée (interface intuitive sous Windows 11, régulation MFC/RF et exports CSV/PDF) 2. Contrôle précis de l’énergie de surface (optimisation fine de la mouillabilité et de la réactivité chimique) 3. Polyvalence de procédé (activation, modification chimique […]

Systèmes de plasma atmosphérique

Systèmes de plasma atmosphérique Séries Cirrus, Nimbus & Stratus Systèmes de traitement par plasma atmosphérique 1.Intégration en ligne et automatisation (intégration facile sur lignes robotisées, convoyeurs et cellules de production) 2.Activation ciblée et à haute vitesse (modification instantanée de la mouillabilité à pression ambiante, sans cycle sous vide) 3. Polyvalence de traitement sans chambre (solutions […]

Pulvérisateur cathodique de table

Pulvérisateur cathodique de table Série DSR1 – DSCR Pulvérisateur cathodique sous vide série DSR1 – DSCR 1. Conception intelligente et intuitive 2. Contrôle du processus entièrement automatisé 3. Hardware sécurisé Pourquoi choisir un pulvérisateur cathodique de table Véritable système 2-en-1 : pulvérisation et évaporation de carbone Technologie avancée de mesure et de contrôle quantitatif du […]

Luxmètre – Spectroradiomètre Specbos 2511

Luxmètre – Spectroradiomètre Specbos 2511 1. Gamme de longueurs d’onde 380-780 nm; 380-1100 nm et 200-1100 nm 2. Modes de mesure : luminance, éclairement, intensité, flux total 3. Étalonnage traçable NIST 4. Utilisation possible avec des DLL ou des commandes compatibles SCPI 5. Mesure de risques (dangerosité) dans l’esprit de la norme EN IEC 62471 […]

Luxmètre – Spectroradiomètre Specbos 2501

Luxmètre – Spectroradiomètre Specbos 2501 1. Longueur d’onde allant du UV au NIR 2. Haute sensibilité 3. Petit et facile à utiliser 4. Étalonnage traçable NIST 5. Mesure également possible avec des DLL ou des commandes compatibles SCPI 6. Modes de mesure radiance et irradiance Le specbos 2501 est un luxmètre – spectroradiomètre à large […]

Microscope à Force Atomique de pointe pour la recherche avancée

Microscope à Force Atomique de pointe pour la recherche avancée Nano-Observateur II 1. Performance exceptionnelle pour la recherche de pointe 2. Résolution ultra-haute et précision de mesure inégalée 3. Suite complète de modes électriques avancés et compatibilité environnementale étendue 4. Interface utilisateur intuitive avec automatisation avancée   Le Nano-Observer II est un microscope AFM haut […]

Microscopes électroniques à balayage de table  EM-40

Microscopes électroniques à balayage Série EM-40 1.Toute nouvelle interface graphique, NanoStation5 2. Fréquence d’images rapide jusqu’à 13 images/s 3. Fonction de mise au point automatique optimisée 4. Platine motorisée à axes X,Y,Z 5. Pression variable (10,20,30 Pa) 6. Compatible avec l’EBSD compacte 7. Analyse rapide des particules La toute dernière génération de SEM de table, Plus rapide […]

Profilomètre Optique D-Surface-View

Profilomètre optique D-surface-View D-surface-View 1. Inspection locale et globale du mm au nm 2. Mesure en une seule acquisition 3. À l’échelle nanométrique D-Surface View est destiné à aider les fabricants de plaquettes d’un diamètre allant jusqu’à 300 mm à réduire leurs coûts et pour les fabricants de puces à améliorer les rendements des dispositifs […]

Galaxy Dual Controller

Galaxy Dual Controller https://www.youtube.com/watch?v=D0_f8Ded11s Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> ResiScope II : Courant/ Resistance sur 10 décades >> Besoin d’un conseil ? Contactez-nous >> Le contrôleur GALAXY DUAL crée de nouvelles opportunités pour les utilisateurs d’AFM en combinant de nouvelles fonctionnalités avec celles déjà disponibles sur votre AFM existant. Ce nouveau […]

Demandez un test échantillon MEB gratuit

Votre test échantillon MEB gratuit VOUS SOUHAITEZ VOUS FAIRE UN AVIS SUR LES MEB AVEC VOTRE APPLICATION ? BÉNÉFICIEZ D’UN TEST ÉCHANTILLON GRATUIT ! Vous souhaitez observer votre échantillon au MEB et découvrir les possibilités que cette technique apporte ? Demandez votre test ! A la suite de cette demande, nous passons votre échantillon sur […]

Merci pour votre téléchargement : profitez de votre guide comment choisir son MEB de table

Votre Guide Microscopie MEB vous attend ! Merci ! Voici votre Guide « Comment bien choisir son MEB de table » : Votre guide ici(opens in new tab) BONUS Vous souhaitez faire un point sur les possibilités qu’offrent les microscopes MEB pour votre application ? Profitez d’un test échantillon offert ici   Vous hésitez encore sur l’achat […]

  Le Guide « Comment bien choisir son microscope MEB de table »  TÉLÉCHARGEZ LE GUIDE COMMENT BIEN CHOISIR SON MICROSCOPE MEB DE TABLE ET DÉTERMINEZ QUELLES FONCTIONNALITÉS MEB SONT NÉCESSAIRES POUR VOTRE PROCESSUS DE RECHERCHE Choisir le bon microscope MEB pour vos recherches peut vous aider à effectuer des analyses de meilleures qualités et à gagner un […]

  • Page 1
  • Page 2
  • Page 3
  • …
  • Page 9
  • Next Page »

NAVIGATION

- Produits Analyse de Surface

- Produits Photométrie

- Prestations

- Formations

- Services

SOCIÉTÉ

- ScienTec

- Contact

- News

- Mentions Légales

SUIVEZ-NOUS

Newsletter

  • Ce champ n’est utilisé qu’à des fins de validation et devrait rester inchangé.
- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

logo footer

+ 33 (0)1 64 53 27 00

info@scientec.fr

© 2019 Scientec. All Rights Reserved.