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Microscope à Force Atomique de pointe pour la recherche avancée

Microscope à Force Atomique de pointe pour la recherche avancée Nano-Observateur II 1. Performance exceptionnelle pour la recherche de pointe 2. Résolution ultra-haute et précision de mesure inégalée 3. Suite complète de modes électriques avancés et compatibilité environnementale étendue 4. Interface utilisateur intuitive avec automatisation avancée   Le Nano-Observer II est un microscope AFM haut […]

Microscopes électroniques à balayage de table  EM-40

Microscopes électroniques à balayage Série EM-40 1.Toute nouvelle interface graphique, NanoStation5 2. Fréquence d’images rapide jusqu’à 13 images/s 3. Fonction de mise au point automatique optimisée 4. Platine motorisée à axes X,Y,Z 5. Pression variable (10,20,30 Pa) 6. Compatible avec l’EBSD compacte 7. Analyse rapide des particules La toute dernière génération de SEM de table, Plus rapide […]

Profilomètre Optique D-Surface-View

Profilomètre optique D-surface-View D-surface-View 1. Inspection locale et globale du mm au nm 2. Mesure en une seule acquisition 3. À l’échelle nanométrique D-Surface View est destiné à aider les fabricants de plaquettes d’un diamètre allant jusqu’à 300 mm à réduire leurs coûts et pour les fabricants de puces à améliorer les rendements des dispositifs […]

Galaxy Dual Controller

Galaxy Dual Controller https://www.youtube.com/watch?v=D0_f8Ded11s Microscopie AFM Nano-Observer : AFM meilleur rapport qualité/prix >> ResiScope II : Courant/ Resistance sur 10 décades >> Besoin d’un conseil ? Contactez-nous >> Le contrôleur GALAXY DUAL crée de nouvelles opportunités pour les utilisateurs d’AFM en combinant de nouvelles fonctionnalités avec celles déjà disponibles sur votre AFM existant. Ce nouveau […]

Demandez un test échantillon MEB gratuit

Votre test échantillon MEB gratuit VOUS SOUHAITEZ VOUS FAIRE UN AVIS SUR LES MEB AVEC VOTRE APPLICATION ? BÉNÉFICIEZ D’UN TEST ÉCHANTILLON GRATUIT ! Vous souhaitez observer votre échantillon au MEB et découvrir les possibilités que cette technique apporte ? Demandez votre test ! A la suite de cette demande, nous passons votre échantillon sur […]

Merci pour votre téléchargement : profitez de votre guide comment choisir son MEB de table

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Cartographie d’épaisseur de couches-minces dédiée à la production

Cartographie d’épaisseur de couches-minces dédiée à la production F60 1. Dédié à la production 2. Automatisé 3. Rapide 4. Personnalisable La famille F60-t cartographie l’épaisseur et l’indice du film tout comme nos produits F50, mais elle comprend également un certain nombre de fonctionnalités destinées spécifiquement aux environnements de production. Il s’agit notamment de la recherche […]

Cartographie automatisée de l’épaisseur de couches minces – jusqu’à 200mm

Cartographie d’épaisseur de couches-minces automatisable – jusqu’à 200mm F54- XY-200 1. Echantillon jusqu’à 200mm de diamètre 2. Platine XY automatisée 3. Films fins, épais, rugueux et opaques L’épaisseur de couche mince sur des échantillons jusqu’à 200 mm sur 200 mm est facilement cartographiée avec le système de réflectance spectrale avancé F54-XY-200. La platine X-Y motorisée […]

Cartographie automatisée de l’épaisseur de couches minces

Cartographie d’épaisseur de couches-minces automatisable F54 1. Échantillon jusqu’à 450 mm de diamètre 2. Aucune limite de nombre de point 3. Facile d’utilisation  4. Large gamme de longueur d’onde L’épaisseur de couche mince des échantillons jusqu’à 450 mm de diamètre est cartographiée rapidement et facilement avec le système de réflectance spectrale avancé F54. Série F50 […]

Mesure ponctuelle – Haute épaisseur

Mesure ponctuelle – Haute épaisseur F70 1. Diagnostics en ligne intégrés 2. Logiciel autonome inclus 3. Fonction d’historique sophistiquée pour enregistrer, reproduire et tracer les résultats Les F70 sont des instruments de mesure d’épaisseur à usage général capables de mesurer des épaisseurs jusqu’à 15 mm. Les applications courantes comprennent les feuilles de verre et de […]

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