F40 - mesure de couche mince

F40 - Systèmes de mesure de couches minces


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Ce système est conçu pour mesurer l’épaisseur en utilisant l’optique de collection de lumière d’un microscope. En raison de l’angle extrême du cône de lumière, ce système permet la mesure de l’épaisseur uniquement, pas de l’index. Disponible dans les configurations VIS, NIR, EXR et XT. Utile pour les surfaces avec motifs, applications ou une petite taille de spot est requise, et dans le secteur médical.

L’épaisseur est mesurée rapidement et facilement avec les systèmes de spectrométrie avancée Filmetrics. L’analyse spectrale des réflexions du dessus au dessous de la couche mince permet d’avoir accès à l’épaisseur en quelques secondes.

Pour les mesures de surfaces avec motifs/patterns ou d’autres applications nécessitant une petite de spot de l’ordre de 10 microns, il suffit d’adapter le modèle F-40 à votre microscope. Pour les microscopes courants, le F-40 se fixe à l’aide d’une simple fixation, complétée d’un support c-mount pour caméra CCD.

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