• Skip to primary navigation
  • Skip to content

+33 (0)1 64 53 27 00

MENUMENU
  • Français
    • English
Scientec-slogan-300x67
  • Analyse de Surface
    • Microscopes Electronique à Balayage
    • Microscopes à Force Atomique
      • CSInstruments
        • Nano-Observer I
        • Nano-Observer II
        • Modes électriques avancés
        • Environnements
        • Pointes AFM
      • Oxford Instruments
        • MFP-3D Origin AFM
        • Cypher S AFM Microscope
        • Vero S: Interferometric AFM
        • Jupiter XR AFM
    • Profilomètres Optiques
      • Profilomètres Optiques
      • Mesures Dynamiques
    • Profilomètres Mécaniques
    • Couches Minces
      • Reflectomètres et mesure d’épaisseur
      • Cartographie de résistivité/conductivité
    • NanoIndenteurs
    • Systèmes Sous Vide
      • Systèmes de dépôt
      • Systèmes d’analyse
      • Accessoires et instruments UHV
    • Spectroscopie IR et Raman
      • Infra-Rouge
      • RAMAN
    • Nettoyeurs Plasma
    • Préparation d’échantillons
      • Métalliseur pour échantillon MEB
      • Polisseur pour échantillon MEB
  • Photométrie – Spectroradiométrie
    • Instruments
      • Luxmètres
      • Luxmètres – chromamètres
      • Luxmètres – spectroradiomètres
      • Photomètres
      • Photomètres – Chromamètres
      • Photomètres – Spectroradiomètres
      • Vidéo-colorimètres
      • Vidéo-photomètres
      • Analyseur d’écrans
      • Radiomètres
      • Spectroradiomètres
      • Analyseur de couleur et puissance lumineuse
      • Photogoniomètre
      • Sources Lumineuses : Étalons Éclairement
      • Sources Lumineuses : Étalons Luminance
    • Applications
      • Luminance
      • Éclairement
      • Flux lumineux
      • Intensité lumineuse
      • Tableaux de bord, avionique et automobile
      • Éclairage intérieur et extérieur
      • Ecrans LED, OLED, smartphones…
      • Projecteurs et feu de signalisation
    • Constructeurs
      • Konica Minolta
      • Optronic Laboratories
      • TechnoTeam
      • Jeti
      • Sedis
      • Premosys
  • Prestations
    • Locations – Calibration – Echantillons
    • Support et maintenance AFM
  • Formations
  • SAV
  • Société
    • ScienTec
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits > Mesure ponctuelle – Haute épaisseur

Mesure ponctuelle – Haute épaisseur

F70

F70

1. Diagnostics en ligne intégrés
2. Logiciel autonome inclus
3. Fonction d'historique sophistiquée pour enregistrer, reproduire et tracer les résultats

Les F70 sont des instruments de mesure d'épaisseur à usage général capables de mesurer des épaisseurs jusqu'à 15 mm. Les applications courantes comprennent les feuilles de verre et de plastique, les lentilles, les conteneurs et les plaquettes semi-conductrices.

Le F70 de base est conçu pour mesurer les matériaux transparents tandis que le F70-NIR mesure les matériaux semi-conducteurs. La plage d'épaisseur est déterminée par la lentille et les options du logiciel (voir la fiche technique pour plus de détails). L'épaisseur peut être mesurée en moins d'une seconde.

Comme tous les instruments de mesure d'épaisseur Filmetrics, le F70 se connecte au port USB de votre ordinateur Windows ™ et s'installe en quelques minutes.

Réfléctométrie

F40

F40 :
Adaptable sur microscope >>

F50

F50 :
Cartographie automatisée >>

Inline-monitoring-f30

F30 :
Multi sites/ In-Situ >>

Icon_Scientec

Besoin d'un conseil ?

Contactez-nous >>

 

Applications Caractéristiques Spécifications
Icon_Scientec

Envoyez-nous vos échantillons

Applications 

  • Revêtements sur presque toutes les surfaces, même les comprimés pharmaceutiques, le bois et le papier
  • Feuille de verre et plastique, tubes, récipients
  • Verres optiques et ophtalmiques
Oled image
Medical devices image
Photoresist image
Process film image

Plus d'info sur les applications

- Amorphe et polysilicium
- Diélectriques
- Épaisseur dure
- Analyse d'échec IC
- ITO et autres TCO
- Équipement médical
- Épaisseur du métal
- Microfluidique
- OLED
- Revêtements ophtalmiques
- Parylene Coatings
- Photoresist
- Silicium poreux
- Films de traitement
- Indice de réfraction & k
- Plaquettes et membranes de silicium
- Applications solaires
- Laboratoires d'enseignement sur les semi-conducteurs
- Rugosité et finition de surface

Mesurez l'épaisseur de matériaux transparents jusqu'à 15 mm d'épaisseur

La mesure d'épaisseur par code couleur (CTM) est une méthode de mesure sans contact pour les matériaux transparents. Jusqu'à deux couches peuvent être mesurées simultanément. Les mesures sont prises d'un seul côté de l'échantillon et sont relativement insensibles à la rugosité, à la non-uniformité et à la courbure.

CTM mesure l'épaisseur d'un échantillon en détectant simultanément la distance des surfaces supérieure et inférieure de l'échantillon. Ceci est réalisé en utilisant une lentille qui focalise différentes longueurs d'onde (correspondant à différentes couleurs et donnant ainsi son nom à cette méthode de mesure) à différentes distances. Étant donné que la longueur d’onde réfléchie dépend directement de la distance entre la lentille et les surfaces supérieure et inférieure de l’échantillon, l’épaisseur peut être facilement calculée en fonction des deux pics du spectre de réflectance (voir la figure de droite).

Avec la connectivité USB et le logiciel sophistiqué basé sur Windows, le système s'installe en quelques minutes et les résultats sont disponibles en quelques secondes ou moins.

F70-thin-film
F70-thin-film-reflectmeters

AVANTAGES

- Diagnostics en ligne intégrés
- Logiciel autonome inclus
- Fonction d'historique sophistiquée pour enregistrer, reproduire et tracer les résultats

 

Specifications

Le F70 peut mesurer différentes plages d'épaisseur en utilisant différents ensembles de lentilles.

L'ajout de capacités de réflectance spectrale complètes est possible en tant que mise à niveau:

Lens Assembly or Upgrade Kit Thickness Range (index=1.5) Accuracy 1 Precision 2 Working Distance Spot Size
LACTM-VIS-0.1mm 15 μm-0.15 mm 0.4 µm 0.05 µm 3.3 mm 10 µm
LACTM-VIS-0.3mm 30 μm-0.45 mm 0.7 µm 0.10 µm 4.5 mm 10 µm
LACTM-VIS-1mm 50 μm-1.5 mm 1.5 µm 0.20 µm 4.7 mm 10 µm
LACTM-VIS-2.4mm 150 μm-3.5 mm 2 µm 0.20 µm 13 mm 20 µm
LACTM-VIS-9mm 0.5 mm-15 mm 7 µm 2 µm 21 mm 50 µm
UPG-F70-SR-KIT 0.015 μm -40 μm 2 nm 0.1 nm 0-500 mm 1.5 mm 3

1 Material dependent. Typical value for midrange thickness.

2 Typical value, 1σ of repeated midrange measurements under unchanged conditions.

3 200µm with optional FO-SPL-PEG-SMA-100-1.3

Spectrometer
Wavelength Range:   380 – 1050 nm
Operating System
PC: Windows XP(SP2) - Windows 8(64-bit)
Mac: OS X Lion/Mountain Lion running Parallels
General
Sample Size:  From 1 mm to 300 mm diameter and up
Light Source: Regulated Tungsten-Halogen (LED optional)
Interface: USB 2.0
Power Requirements: 100-240 VAC, 50-60 Hz, 20W
Certifications: CE EMC and safety directives

Contactez-nous pour plus d'informations sur ce produit

Vous souhaitez un devis ?
Des informations complémentaires ?

Nous vous répondrons dans un délai de 24h

  • Ce champ est masqué lorsque l‘on voit le formulaire.


NAVIGATION

- Produits Analyse de Surface

- Produits Photométrie

- Prestations

- Formations

- Services

SOCIÉTÉ

- ScienTec

- Contact

- News

- Mentions Légales

SUIVEZ-NOUS

Newsletter

  • Ce champ n’est utilisé qu’à des fins de validation et devrait rester inchangé.
- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

logo footer

+ 33 (0)1 64 53 27 00

info@scientec.fr

© 2019 Scientec. All Rights Reserved.