Profilomètre Optique au meilleur rapport qualité/prix

Profilomètre Optique au meilleur rapport qualité/prix

Instruments profilm3d

Profilm3D

1. Résolution verticale sub-nanométrique
avec balayage piézoélectrique 500µm
2. Interférométrie à balayage vertical (VSI)
et à déphasage (PSI)
3. Logiciel d'analyses avancées
4. Platine motorisée

5. Détection objectif

6. Facile d'utilisation

7. Fonction Stiching

Enfin, les mesures de la rugosité de surface et de la topographie peuvent être faites avec un instrument qui coûte moins cher qu'un profilomètre à stylet. Le profilm3D a une résolution verticale sub-nanométrique qui surpasse les instruments qui coûtent 3 fois plus. Pour ce faire, il utilise les mêmes technologies de mesure de pointe que les profileurs optiques les plus sensibles disponibles : l'interférométrie à balayage vertical (VSI) et l'interférométrie à déphasage (PSI).

Applications Caractéristiques Specifications

Applications en profilométrie optique

  • Science de surface
  • Science des matériaux
  • Cellules solaires
  • Matériaux pour l'énergie
  • Semi-conducteurs
  • Polymères et Composites
  • Rugosité de surface
  • Revêtements

Plus d'info sur les applications

- Hauteur des marches
- Texture: rugosité et ondulation
- Arc et forme
- Edge RollOff
- Examen des défauts

La profilométrie optique enfin accessible

Le Profilm 3D est intuitif et compl et facilite la mesure de la rugosité de surface, des profils et de la hauteur des marches. En quelques secondes, vous pouvez mesurer tous les paramètres de rugosité courants, sur les surfaces planes et incurvées. Une puissante fonctionnalité d'assemblage permettant de combiner plusieurs images de profilomètre est disponible en tant que mise à niveau logicielle à faible coût.

 

Pour la rugosité
Vous pouvez mesurer la texture, la finition et la rugosité de la surface en quelques secondes avec Profilm3D, le tout en un seul clic de souris. Utilisant les techniques standard de l’interférométrie en lumière blanche (WLI) et de l’interférométrie en décalage de phase (PSI), le Profilm3D mesure rapidement la rugosité et la texture sur une grande surface 2D sans contact avec l’échantillon.

  • Mesurer les échantillons courbes
    Étant donné que le Profilm3D est une technique sans contact, vous pouvez facilement mesurer des surfaces courbes et autres surfaces non planes. Le retrait de la forme (ou retrait de la forme) et le filtrage peuvent être ajoutés à votre recette de mesures pour que les mesures d'état de surface, de texture et de rugosité se fassent en un clic!

  • Rapport dans n'importe quel paramètre de rugosité standard
    Profilm3D calcule l’ensemble des 47 paramètres de rugosité standard ASME / EUR / ISO (cliquez ici pour voir la liste complète des paramètres 2D et 3D). Vous pouvez en afficher tout ou partie avec vos résultats, ce qui rend les rapports personnalisés faciles et rapides.

  • Conforme aux normes ISO 9000 et ASME B46.1
    Les méthodes optiques de mesure de la rugosité de surface sont maintenant entièrement prises en charge par ISO. En particulier, la norme ISO 25178 Partie 604 décrit la méthode WLI de Profilm3D (connue également sous le nom d'interférométrie à balayage de cohérence).

 

AVANTAGES

- Résolution verticale sub-nanométrique
avec balayage piézoélectrique 500µm
- Interférométrie à balayage vertical (VSI)
et à déphasage (PSI)
- Logiciel d'analyses avancées
- Platine motorisée

- Détection objectif

- Facile d'utilisation

- Fonction Stiching

 

Spécifications

Performance

Thickness Range, WLI
Thickness Range, PSI* 0 - 3 μm
Sample Reflectance Range 0.05% - 100%

*Optional phase-shifting interferometry mode

Mechanical

Z Range
Piezo Range 500 μm
XY Stage Type Automated
XY Stage Range 100 mm x 100 mm
Camera 2592 x 1944 (5 megapixels)
System Size, W x D x H 300 mm x 300 mm x 550 mm
System Weight 15 kg

Objectives**

Magnification 5X
Magnification 10X Field-of-View 2.0 x 1.7 mm
Spatial Sampling*** 0.88 μm
Magnification 20X Field-of-View 1.0 x 0.85 mm
Spatial Sampling*** 0.44 μm
Magnification 50X Field-of-View 0.4 x 0.34 mm
Spatial Sampling*** 0.176 μm
Magnification 100X Field-of-View 0.2 x 0.17 mm
Spatial Sampling*** 0.088 μm

** Sold separately
*** Pixel size projected on sample

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