• Skip to primary navigation
  • Skip to content

+33 (0)1 64 53 27 00

MENUMENU
  • Français
    • English
Scientec-slogan-300x67
  • Analyse de Surface
    • Microscopes Electronique à Balayage
    • Microscopes à Force Atomique
      • CSInstruments
        • Nano-Observer I
        • Nano-Observer II
        • Modes électriques avancés
        • Environnements
        • Pointes AFM
      • Oxford Instruments
        • MFP-3D Origin AFM
        • Cypher S AFM Microscope
        • Vero S: Interferometric AFM
        • Jupiter XR AFM
    • Profilomètres Optiques
      • Profilomètres Optiques
      • Mesures Dynamiques
    • Profilomètres Mécaniques
    • Couches Minces
      • Reflectomètres et mesure d’épaisseur
      • Cartographie de résistivité/conductivité
    • NanoIndenteurs
    • Systèmes Sous Vide
      • Systèmes de dépôt
      • Systèmes d’analyse
      • Accessoires et instruments UHV
    • Spectroscopie IR et Raman
      • Infra-Rouge
      • RAMAN
    • Nettoyeurs Plasma
    • Préparation d’échantillons
      • Métalliseur pour échantillon MEB
      • Polisseur pour échantillon MEB
  • Photométrie – Spectroradiométrie
    • Instruments
      • Luxmètres
      • Luxmètres – chromamètres
      • Luxmètres – spectroradiomètres
      • Photomètres
      • Photomètres – Chromamètres
      • Photomètres – Spectroradiomètres
      • Vidéo-colorimètres
      • Vidéo-photomètres
      • Analyseur d’écrans
      • Radiomètres
      • Spectroradiomètres
      • Analyseur de couleur et puissance lumineuse
      • Photogoniomètre
      • Sources Lumineuses : Étalons Éclairement
      • Sources Lumineuses : Étalons Luminance
    • Applications
      • Luminance
      • Éclairement
      • Flux lumineux
      • Intensité lumineuse
      • Tableaux de bord, avionique et automobile
      • Éclairage intérieur et extérieur
      • Ecrans LED, OLED, smartphones…
      • Projecteurs et feu de signalisation
    • Constructeurs
      • Konica Minolta
      • Optronic Laboratories
      • TechnoTeam
      • Jeti
      • Sedis
      • Premosys
  • Prestations
    • Locations – Calibration – Echantillons
    • Support et maintenance AFM
  • Formations
  • SAV
  • Société
    • ScienTec
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits > Microscope Raman Confocal S&I

Microscope Raman Confocal S&I

Trivista

TriVista CRS

1. Dispersion additive et soustractive
2. Résolution spectrale imbattable
3. Mesures de fréquence les plus basses jusqu'à 5 cm-1 ou moins
4. Expériences variables d'excitation-longueurs d'onde prises en charge
5. Flexibilité maximale et améliorations optionnelles

Fonctionnalité
  • Triple spectromètre / spectrographes à différentes focales
    - TR 555 avec focale 3 x 500 mm
    - TR 557 avec 2 x 500 mm plus 750 mm de focale
    - TR 777 avec focale 3 x 750 mm
  • Gamme de longueurs d’ondes allant des UV profonds au NIR (200 à 2000 nm)
  • Jusqu'à 4 systèmes laser intégrés et un port d'entrée supplémentaire pour les lasers externes
  • Double trajet du faisceau laser pour UV et VIS / NIR
  • Contrôle logiciel entièrement automatisé, y compris
    - Contrôle de mesure-configuration
    - Contrôle d'alignement et d'étalonnage
  • Résolution spectrale élevée, c’est-à-dire <0,2 cm-1 FWHM à 633 nm
  • Gamme de basses fréquences jusqu’à +/- 10 cm-1 avec les filtres coupe-bande Ultra Narrow
  • Plage de hautes fréquences jusqu’à 9 000 cm-1 (à 532 nm), utile pour la photoluminescence
  • Haute résolution spatiale inférieure à 1 µm en latéral et 2 µm en axiale
  • Adaptable pour les mesures externes
  • Améliorations facultatives:
    - Macro Raman
    - Mesures de polarisation Raman
    - Température dépendant des mesures Raman
    - Cartographie Raman motorisée point à point et rapide
    - Cartographie TERS et AFM-Raman
    - Classe de sécurité laser I

Spectroscope RAMAN

Monovista

Monovista CRS+ : Microscope Raman Confocal >

Icon_Scientec

Besoin d'un conseil ?

Contactez-nous >>

Spécifications

Magnification x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000)
Accelerating Voltage 1kV to 30kV
Electron Gun Tungsten Filament(w)
Detector SE Detector, BSE Detector, EDS
Stage X: 35mm (Motorized),Y: 35mm (Motorized)
T: 0 to 45° (Motorized),R: 360° ,Z: 5 to 50mm(Manual)
Maximum Sample Size 45mm (H),60mm (Diameter)
Image Mode(pixel) · RDE (320x240), TV (640x480), Slow (800x600)
· Photo (1280x960, 2560x1920, 5120x3840)
Frame Rate · RDE (MAX. 30 frames/sec)
· TV (MAX. 10 frames/sec)
· Slow (MAX. 2 frames/sec)
Vacuum System Turbo Molecular Pump (Less than 3min)
Auto Functions Auto Focus, Contrast, Brightness,
OS · Windows7

EDS

System Resolution Mn K 133eV standard 129 eV premium
Chip Size 30 mm²
Window Si3N4 <100 nm thick
Cooling System Peltier
Detection Range Be to Am
X-ray Input 1 Mcps/channel
Throughput (Stored Counts) 300 kcps/channel
Peak To Background 10,000 : 1
Resolution Stability 90% up to 200 kcps
eV/Channel 10 eV/ch
Power Requirements · 5 W max - detector only
· 10 W max - with DPP box
Input Voltage · 100 - 240 VAC.
· 47 - 63 Hz

Contact us for more information on this product

Would you like an estimation ?
Additional information?
We will reply to you within 24 hours

  • Ce champ est masqué lorsque l‘on voit le formulaire.


NAVIGATION

- Produits Analyse de Surface

- Produits Photométrie

- Prestations

- Formations

- Services

SOCIÉTÉ

- ScienTec

- Contact

- News

- Mentions Légales

SUIVEZ-NOUS

Newsletter

  • Ce champ n’est utilisé qu’à des fins de validation et devrait rester inchangé.
- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

logo footer

+ 33 (0)1 64 53 27 00

info@scientec.fr

© 2019 Scientec. All Rights Reserved.