Formation Photométrie Colorimétrie Radiométrie de sources
3 et 4 Juin 2020
Un programme pédagogique étudié pour répondre à vos attentes en Photométrie, Colorimétrie, Radiométrie des Sources Lumineuses et des écrans
en partenariat avec Konica Minolta
Date : Mercredi 03/06/2020 et Jeudi 04/06/2020
Durée : Formation de 2 jours (14h)
Localisation : ScienTec 17 Avenue des Andes, Bâtiment le Cèdre, 91940 Les Ulis, FRANCE
Tarif : 1300€ HT
Inscription : Avant le 15 Mai 2020 sur info@scientec.fr
Spécifications
| Magnification | x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000) |
|---|---|
| Accelerating Voltage | 1kV to 30kV |
| Electron Gun | Tungsten Filament(w) |
| Detector | SE Detector, BSE Detector, EDS |
| Stage |
X: 35mm (Motorized)，Y: 35mm (Motorized) T: 0 to 45° (Motorized)，R: 360° ，Z: 5 to 50mm(Manual) |
| Maximum Sample Size | 45mm (H)，60mm (Diameter) |
| Image Mode(pixel) |
· RDE (320x240), TV (640x480), Slow (800x600) · Photo (1280x960, 2560x1920, 5120x3840) |
| Frame Rate |
· RDE (MAX. 30 frames/sec) · TV (MAX. 10 frames/sec) · Slow (MAX. 2 frames/sec) |
| Vacuum System | Turbo Molecular Pump (Less than 3min) |
| Auto Functions | Auto Focus, Contrast, Brightness, |
| OS | · Windows7 |
EDS
| System Resolution | Mn K 133eV standard 129 eV premium |
|---|---|
| Chip Size | 30 mm² |
| Window | Si3N4 <100 nm thick |
| Cooling System | Peltier |
| Detection Range | Be to Am |
| X-ray Input | 1 Mcps/channel |
| Throughput (Stored Counts) | 300 kcps/channel |
| Peak To Background | 10,000 : 1 |
| Resolution Stability | 90% up to 200 kcps |
| eV/Channel | 10 eV/ch |
| Power Requirements |
· 5 W max - detector only · 10 W max - with DPP box |
| Input Voltage |
· 100 - 240 VAC. · 47 - 63 Hz |
Applications sur la microscopie
Électronique à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
ioshsdioh
![Shutterstock 548738002 [converti]](https://www.scientec.fr/wp-content/uploads/2019/09/shutterstock-548738002-converti-1-768x790.png.webp)
Cette formation est destinée aux techniciens et ingénieurs (R&D, production, universités, ...) analysant la couleur et la Photométrie de sources lumineuses et d’écrans.
- Connaissances théoriques
- Connaissances pratiques
- Grandeurs et unités
- Contrôle de sources lumineuses et d’écrans à l’aide
d’instruments de mesure...
Thèmes abordés
- Nature de la lumière
- Grandeurs et lois de la Photométrie
- Couleur, Rendu, Température de couleur des sources lumineuses
- Récepteur visuel
1. Introduction à la Lumière
- Dé nition de la lumière
- Les radiations optiques (UV-VIS-IR)
2. La vision
- Description oeil, interprétation par le cerveau
- Sensibilité des cellules de la rétine
- La synthèse additive
3. Grandeurs énergétiques ou radiométriques
- Flux énergétique - Intensité énergétique
- Luminance énergétique - Éclairement énergétique
4 Grandeurs visuelles ou photométriques
- Flux lumineux - Intensité lumineuse
- Luminance lumineuse - Éclairement énergétique
5. Principe du calcul des coordonnées chromatiques
- Détermination des composantes trichromatiques
(expériences de WRIGHT et GUILD)
- Les fonctions colorimétriques (observateur 2° - 10°)
6. Introduction aux référentiels colorimétriques
- Les référentiels standards de la CIE (CIE 1931 x,y ; CIE
1976 u',v' …)
7. La température de couleur
- Dé nition du corps noir
- Loi de PLANK et loi de WIEN
8. Les di érentes sources lumineuses
- Sources lumineuses usuelles
- Les illuminants
- L'indice de rendu des couleurs (IRC)
9. La vision de nuit (NVG -NVIS)
- La norme MIL-3009 (anciennement MIL-L-85762A)
10. Description des appareils de mesures et manipulations
- Appareils à ltres (radiomètres, luxmètres, photomètres,
vidéocolorimètres…)
- Appareils à réseaux (spectroradiomètres, monochromateurs…)
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
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3. Fonctions automatiques
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- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
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luminosité, alignement du canon à électron
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5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
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jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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luminosité, alignement du canon à électron
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7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé selon 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste, luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Les applications comprennent aussi bien le processus de défaut, l’analyse dimensionnelle, le processus de caractérisation, la rétro ingénierie que l’identification de particule... c’est pourquoi les domaines d’applications sont multiples et très larges :
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
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- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Les applications comprennent aussi bien le processus de défaut, l’analyse dimensionnelle, le processus de caractérisation, la rétro ingénierie que l’identification de particule... c’est pourquoi les domaines d’applications sont multiples et très larges :
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
Accessoires
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