• Skip to primary navigation
  • Skip to content

+33 (0)1 64 53 27 00

MENUMENU
  • Français
    • English
Scientec-slogan-300x67
  • Analyse de Surface
    • Microscopes Electronique à Balayage
    • Microscopes à Force Atomique
      • CSInstruments
        • Nano-Observer I
        • Nano-Observer II
        • Modes électriques avancés
        • Environnements
        • Pointes AFM
      • Oxford Instruments
        • MFP-3D Origin AFM
        • Cypher S AFM Microscope
        • Vero S: Interferometric AFM
        • Jupiter XR AFM
    • Profilomètres Optiques
      • Profilomètres Optiques
      • Mesures Dynamiques
    • Profilomètres Mécaniques
    • Couches Minces
      • Reflectomètres et mesure d’épaisseur
      • Cartographie de résistivité/conductivité
    • NanoIndenteurs
    • Systèmes Sous Vide
      • Systèmes de dépôt
      • Systèmes d’analyse
      • Accessoires et instruments UHV
    • Spectroscopie IR et Raman
      • Infra-Rouge
      • RAMAN
    • Nettoyeurs Plasma
    • Préparation d’échantillons
      • Métalliseur pour échantillon MEB
      • Polisseur pour échantillon MEB
  • Photométrie – Spectroradiométrie
    • Instruments
      • Luxmètres
      • Luxmètres – chromamètres
      • Luxmètres – spectroradiomètres
      • Photomètres
      • Photomètres – Chromamètres
      • Photomètres – Spectroradiomètres
      • Vidéo-colorimètres
      • Vidéo-photomètres
      • Analyseur d’écrans
      • Radiomètres
      • Spectroradiomètres
      • Analyseur de couleur et puissance lumineuse
      • Photogoniomètre
      • Sources Lumineuses : Étalons Éclairement
      • Sources Lumineuses : Étalons Luminance
    • Applications
      • Luminance
      • Éclairement
      • Flux lumineux
      • Intensité lumineuse
      • Tableaux de bord, avionique et automobile
      • Éclairage intérieur et extérieur
      • Ecrans LED, OLED, smartphones…
      • Projecteurs et feu de signalisation
    • Constructeurs
      • Konica Minolta
      • Optronic Laboratories
      • TechnoTeam
      • Jeti
      • Sedis
      • Premosys
  • Prestations
    • Locations – Calibration – Echantillons
    • Support et maintenance AFM
  • Formations
  • SAV
  • Société
    • ScienTec
  • Contact

Vous êtes ici : Accueil > Produits > Polisseur pour échantillon MEB

Polisseur pour échantillon MEB

Cp-8000-450px

CP-8000

1. Polisseur ionique
2. Préparation de types d'échantillons
3. Préserve les structures
4. Facile d'utilisation

Le polisseur de section transversale pour broyeur à ions CP-8000 pour la préparation d'échantillons au MEB utilise un faisceau d'ions argon pour éliminer en douceur les matériaux de la surface d'un échantillon - littéralement des atomes à la fois. Le polissage au niveau atomique résultant ne peut tout simplement pas être meilleur. Un polisseur à section transversale pour broyeur à ions est utilisé APRÈS la dernière étape du polissage mécanique de matériaux plus durs ou de la coupe ou de la fracture par congélation de matériaux biologiques et autres matériaux mous.

Les applications typiques incluent l'analyse critique de la section transversale de semi-conducteurs et de composants électroniques tels que Via, les joints de soudure, l'inspection de collage et de délamination de couches et d'autres situations dans lesquelles le meulage et le polissage traditionnels ont tendance à déformer ou étaler les couches les plus molles dans les interfaces difficiles à souples .

Le sectionnement ionique de sections transversales peut également être utilisé avec des poudres pour effectuer un sectionnement délicat afin de voir la structure interne des poudres dans les applications pharmaceutiques et autres sciences des matériaux.

Le CP-8000 est simple à utiliser et beaucoup plus abordable que les produits traditionnels du marché. Le panneau de commande à écran tactile LCD 7 ″ permet de stocker plusieurs «recettes» pour différents types de préparation d’échantillons. Cela rend également l'opération simple et directe. La maintenance de la polisseuse de section transversale CP-8000 est simple et facilitée par l'utilisateur.

Microscopie Électronique à balayage

Meb em-30ax

MEB de table : Haute résolution et faible coût >>

Sem-cx-200ta

MEB standard : plus grand grossissement >>

Metalliseur-pro spt-20

SPT-20 : Métalliseur pour échantillon MEB >>

Eds

EDS : Mesure quantitative des éléments >>

Icon_Scientec

Besoin d'un conseil ?

Contactez-nous >>

 

Caractéristique

Cross Polisher
CP-8000

Le CP de coxem est un polisseur ionique qui permet de préparer tous les types d'échantillons : durs, mous, multicouches.... Ils seront tous très aisément préparés en préservant les structures et sans artefacts de polissage.

  • Argon Ion Mill - diamètre du faisceau
  • Energie par faisceau ionique: 2kV à 8kV
  • Vitesse de broyage 150 μm / h (Si à 5 kV)
  • Taille maximale d'échantillon: 20 (l) x 12 (d) x 7 (h) mm
  • Caméra CCD pour voir un échantillon pendant le fraisage
  • Alignement du faisceau via l'écran fluorescent
  • Pompe à vide turbo moléculaire incluse Ebauche de pompe à vide incluse Pression de travail: 0.0002 torr

 

Mosquito stinger

Mosquito stinger

Nanotubes 80000x

Nanotubes 80000x

Silicon wafer 2

Silicon wafer 2

X2-5

X2-5

3-4

3-4

Cosmetic patch

Cosmetic patch

Etch-500x

Etch-500x

Etch-3000x

Etch-3000x

Contactez-nous pour plus d'informations sur ce produit

Vous souhaitez un devis ?
Des informations complémentaires ?

Nous vous répondrons dans un délai de 24h

  • Ce champ est masqué lorsque l‘on voit le formulaire.


NAVIGATION

- Produits Analyse de Surface

- Produits Photométrie

- Prestations

- Formations

- Services

SOCIÉTÉ

- ScienTec

- Contact

- News

- Mentions Légales

SUIVEZ-NOUS

Newsletter

  • Ce champ n’est utilisé qu’à des fins de validation et devrait rester inchangé.
- Newsletter

- Facebook

- Linkedin

logo footer

+ 33 (0)1 64 53 27 00

info@scientec.fr

© 2019 Scientec. All Rights Reserved.