Produits


 

 

Analyse de surface  

Photométrie -Colorimétrie

 

ok


Microscopie à champs proche

 

CSInstruments

- AFM Nano-Observer

- ResiScope II mesure de courant et résistance

 

Anasys Instruments

- NanoIR2 (AFM-IR)

- NanoIR2-s (AFM-IR+SNOM)


Nanonics

- Microscopie SNOM

 

Accessoires

- Pointes AFM

ok


Profilomètrie optique 2D/3D

 

KLA Tencor

- Interféromètres

 

Toho Technology

- Mesure de stress


Sensofar

- Interféromètres

- Interféromètres /confocal


- Inspection of stents

Lyncee Tec

- Holographie 3D dynamique

- MemsTool

- Réfléctomètre

 

Filmetrics

- Profilomètre optique

 

Accessoires

- Marches étalon

 

 

 

 

 

ok


Mesure de sources lumineuses et d'écrans


Konica Minolta

- Luxmètre

- Luxmètres/ Chromamètres

- Photomètres

- Photomètres chromamètres

- Vidéocolorimètres

- Analyseurs d'écrans

- Spectroradiomètres

 

 

Gooch & Housego

- Photomètres/ radiomètres

- Spectroradiomètres

- Sources lumineuses

 

TechnoTeam

- Photomètre 2D

- Vidéophotomètres

- Vidéocolorimètres

 

Jeti

- Spectroradiomètres

- Spectroradiomètres UV

 

Sedis

- Photogoniomètre

 

 

 

 

ok


Nano-Indentation

 

Nanomechanics

- Indenteur In-Situ

- Nanoindenter


- Nano-Indenteur (ambient & vacuum)

 

 




Profilomètrie mécanique

 

KLA Tencor

- Profilomètres


Toho Technology

- Profilomètres échantillon large


Accessoires

- Marches étalon

 
 

ok


Couches minces

 

Filmetrics

- Mesure spectrale

- Mesure d'épaisseur

- Constante optiques

 


Technologie sous vide

 

Prevac

- Ultra High Vacuum systems

- Manipulators, goniometer...

- Chamber


- Sample holders

- Instruments

- Accessories


- Electronics

- Software


 

ok


Mesure photovoltaïque

 

Konica Minolta

- Cellules de réference PV