Produits


 

 

Analyse de surface  

Photométrie -Colorimétrie

 

ok


Microscopie à champs proche

 

Agilent Technologies

- AFM/STM

- AFM échantillon large

- AFM application bio

CSInstruments

- AFM Nano-Observer

- ResiScope II mesure de courant et résistance

Nanonics

- Microscopie SNOM

 

Accessoires

- Pointes AFM

ok


Profilomètrie optique 2D/3D

 

KLA Tencor

- Interféromètres

 

Toho Technology

- Mesure de stress


Sensofar

- Interféromètres

- Interféromètres /confocal

Lyncee Tec

- Holographie 3D dynamique

 

 

 

 

ok


Mesure de sources lumineuses et d'écrans


Konica Minolta

- Luxmètre

- Luxmètres/ Chromamètres

- Photomètres

- Photomètres chromamètres

- Vidéo-colorimètres

- Analyseurs d'écrans

- Spectroradiomètres

 

 

Gooch & Housego

- Photomètres/ radiomètres

- Spectroradiomètres

- Sources lumineuses

 

TechnoTeam

- Photomètre 2D

- Vidéo-photomètres

- Vidéo- colorimètres

 

Jeti

- Spectroradiomètres

- Spectroradiomètres UV

 

 

 

ok


Nano-Indentation

 

Agilent Technologies

- Nano-Indenteur

 

Nanomechanics

- Indenteur In-Situ

 

 




Profilomètrie mécanique

 

KLA Tencor

- Profilomètres

 
 

ok


Field Emmission Scanning Electron Microscopy

 

Agilent Technologies

- FE-SEM

 

ok


Couches minces

 

Filmetrics

- Mesure spectrale

- Mesure d'épaisseur

- Constante optiques

 

ok


Mesure photovoltaïque

 

Konica Minolta

- Cellules de réference PV