Photométrie -Colorimétrie

Microscopie à champs proche

Agilent Technologies

- AFM/STM

- AFM échantillon large

- AFM application bio

CSInstruments

- AFM Nano-Observer

- ResiScope II mesure de courant et résistance

Nanonics

- Microscopie SNOM

Accessoires

- Pointes AFM

Profilomètrie optique 2D/3D

KLA Tencor

- Interféromètres

Toho Technology

- Mesure de stress

Sensofar

- Interféromètres

- Interféromètres /confocal

Lyncee Tec

- Holographie 3D dynamique

Profilomètrie mécanique

KLA Tencor

- Profilomètres

Mesure de sources lumineuses et d'écrans

Konica Minolta

- Luxmètre

- Luxmètres/ Chromamètres

- Photomètres chromamètres

- Spectroradiomètes

- Vidéo-colorimètres

- Analyseurs d'écrans

Gooch & Housego

- Photomètres/ radiomètres

- Spectroradiomètres

- Sources lumineuses

TechnoTeam

- Vidéo-photomètres/ colorimètres

Jeti

- Spectroradiomètres

Nano-Indentation

Agilent Technologies

- Nano-Indenteur

Nanmechanics

- Indentation In-Situ

Couches minces

Filmetrics

- Mesure spectrale

- Mesure d'épaisseur

- Constante optiques

Mesure photovoltaïque

Konica Minolta

- Cellules de réference PV

Field Emmission Scanning Electron Microscopy

Agilent Technologies

- FE-SEM