Microscope à Force Atomique de pointe pour la recherche avancée
Nano-Observateur II
1. Performance exceptionnelle pour la recherche de pointe
2. Résolution ultra-haute et précision de mesure inégalée
3. Suite complète de modes électriques avancés et compatibilité environnementale étendue
4. Interface utilisateur intuitive avec automatisation avancée
Le Nano-Observer II est un microscope AFM haut de gamme offrant des capacités de mesure sans précédent. Son scanner innovant permet des analyses à grande échelle et à haute résolution sans compromis. En plus des modes standard, il propose une gamme complète de modes avancés, notamment le HD-KFM III, le ResiScope III, et le VMFM (Module de Champ Magnétique Variable). Le Nano-Observer II excelle dans divers environnements (contrôle précis des gaz, de l'humidité, de la température et mesures en milieu liquide). Ses capacités optiques étendues en font un outil idéal pour les couplages avancés (TERS, techniques de corrélation). Hautement personnalisable, il répond aux exigences les plus pointues de la recherche moderne.
Microscopie AFM
Applications sur la microscopie à Force Atomique
Le microscope AFM Nano-Observer est utilisé pour des applications allant de la caractérisation de matériaux à des échantillons biologiques tels que des cellules vivantes... Ses modes avancés et ses différents environnements vous apportent un large panel d'applications.
- Chimie
- Revêtement / couches minces
- Sciences de la vie
- Science des matériaux
- Micro / Nanostructures
- Optique
- Polymères
- Semiconducteurs
Cobalt alloy coating, MFM mode, 30µm
Carbon Fibers in epoxy, Force modulation mode, 30µm
PZT, PFM mode, 10µm
OPV, ResiScope mode, 10µm
Spherulites, oscillating mode, 20µm
AU, Soft ResiScope mode, 5µm
Biomolecules, HD-KFM mode, 1µm
Plus d'info sur les Applications
Le microscope AFM Nano-Observer, une configuration complète
1. Facilité d'utilisation
- Vue de dessus et de côté
- Logiciel intuitif
- Commande à écran tactile
2. Haute résolution avec un grand scanner
- Laser et électronique à faible bruit
- Contrôleur 24bits
- Flexion stage breveté
3. Multiples modes
- Contact / Mode de friction et oscillation / Phase
- AFM conducteur
- PFM (Piezo-response)
- MFM / MLFM/ EFM
- Force de modulation
4. Modes électriques UNIQUES
- HD-KFM
Pas de lift : meilleures sensibilité et résolution
- ResiScope
Courant / résistance de 10^2 à 10^12 ohms
- Soft ResiScope
ResiScope pour échantillons délicats
- sMIM
permittivité et conductivité à l'échelle du nm
5. Environnements divers
- Atmosphère contrôlée (gaz, humidité)
- Température (-40 à 200°C)
- Liquide (pas d'ajustement nécessaire)
Les avantages du Nano-Observer
- Haute résolution et facilité d'utilisation
- Laser à faible bruit et système de pré-alignement
- Le nec plus ultra de la mesure électrique en AFM
- Plusieurs environnements (liquide, gaz, température)
- Abordable
- Evolutif
Specifications
Specifications
| XY scan range | |
|---|---|
| Z range | 10 μm (tolerance +/- 10%) |
| XY drive resolution | 24 bit control - 0.06 Angströms |
| Z drive resolution | 24 bit control - 0.006 Angströms |
| Ultra low noise HV | Typ : <0.01 mV RMS |
| 6 DAC Outputs | 6 D/A Converters – 24 bit (XYZ drive, bias, aux…) |
| 8 ADC Inputs | 8 A/D Converters – 16 bit |
| Data points | Up to 4096 |
| Integrated Lock-in |
Up to 6 MHz (software limited) 2nd lock-in (6 MHz-optional) |
| Interface | USB (2.0 - 3.0 compatible) |
| Controller Power | AC 100 – 240 V - 47-63 Hz |
| Operating System | Windows XP, 7, 8 or 10 |
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