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Vous êtes ici : Accueil > Produits > Microscopes électroniques à balayage de table EM-40

Microscopes électroniques à balayage

EM 40

Série EM-40

1.Toute nouvelle interface graphique, NanoStation5

2. Fréquence d'images rapide jusqu'à 13 images/s
3. Fonction de mise au point automatique optimisée
4. Platine motorisée à axes X,Y,Z
5. Pression variable (10,20,30 Pa)

6. Compatible avec l'EBSD compacte

7. Analyse rapide des particules

La toute dernière génération de SEM de table, Plus rapide

  • Le microscope MEB EM-40, plus rapide et plus compacte, est le dernier né de la gamme de MEB de table de COXEM. Le MEB de table EM-40 est doté d'une technologie de traitement du signal ultra-rapide de 5 ème génération. L' EM-40 est un MEB à filament tungstène qui concentre toutes les dernières technologies développées par COXEM au niveau hardware et software. Le MEB de table EM-40 permet l’acquisition de manière très simple d’images à des fréquences allant jusqu'à 13 images/seconde.

 

En savoir plus

Microscopie Électronique à balayage

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La Microscopie Électronique à Balayage
haute résolution à faible coût

La série EM-40 représente la dernière nouveauté de COXEM dans sa gamme croissante de MEB de table. L'EM-40 est doté d'une technologie de traitement du signal de 5e génération ultra-rapide et offre des images de haute qualité à des taux de trame allant jusqu'à 13 images par seconde. Quatre modes d'imagerie (Rapide, Lent, Ultra-rapide et Photo) permettent à l'utilisateur de choisir la qualité d'image et la vitesse qui conviennent le mieux à son application.

Options avancées disponibles:
BSE, EDS, EBSD - STEM - Navi CAM - Vide bas (20Pa) - Pression variable (10 / 20 / 30 Pa)

AVANTAGES

- Nouvelle interface utilisateur, NanoStation5
- Taux de trame rapide jusqu'à 13 images par seconde - Fonction de mise au point automatique optimisée
- Scène motorisée sur les axes X, Y, Z
- Pression variable (10, 20, 30Pa)
- Compatible avec EBSD compact

- Analyse rapide des particules

 

Caractéristiques :

- Canon électronique : filament de tungstène (W)
- Résolution spatiale : < 5nm
- Grossissement : x20 à x250 000 (Zoom numérique x1 ~ x12)
- Tension d'accélération : 1 ~ 30kV
- Scène d'échantillon : X : 40mm, Y : 40mm, Z : 40mm, motorisée sur 3 axes
- Détecteur : SE, BSE*
- Mode de vide : Vide élevé, Vide bas*, Pression variable*
- Système de vide : Pompe turbo (80L) + Pompe rotative (100L)
- Porte-échantillon : Porte-échantillon à broches multiples
- Dimensions : (W × L × H) 315 × 560 × 580mm, 81,5kg, Panorama 2.0, Autofocus, Ajustement automatique de la luminosité et du contraste en une seconde, Réglage automatique du filament, - Démarrage automatique
- Fonctionnalités : Mélange de signaux, Affichage et sauvegarde triple, Profil de ligne, Filtrage d'image, Mesure de ligne, Mesure de couleur
- Format de sortie des données : JPEG, TIFF, BMP
- Options* : BSE, EDS, EBSD, STEM, Navi CAM, Vide bas (20Pa), Pression variable (10 / 20 / 30 Pa), Pompe à diaphragme

 

Paramètres :
- Alignement
- Contrôle de la scène
- Mise au point
- Grossissement
- Luminosité
- Contraste

 

Opérations :
- Activation / désactivation du canon électronique
- Vide / Ventilation
- Détecteur BSE Navi CAM
- Acquisition
- Sauvegarde / Chargement
- Archivage

 

Imagerie SE (secondaire électronique) et BSE (rétrodiffusion électronique)

Capture d'images avec des détails de surface et topographiques (SE) ou un contraste de poids atomique (BSE)

Combinez les deux signaux de détecteur d'imagerie pour obtenir une image composite représentant à la fois la variation de poids topographique et atomique

Fonctions fonctionnelles et conviviales

LOGICIEL NANOSTATION 5 (Nouvelle interface utilisateur)

Nanostation site web

Modèles

Specifications MEB de table

De nombreuses spécifications pour le microscope électronique à balayage de tables EM-40 :

Spécification em 40 site web

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