Microscopie sub-µm simultanée IR et Raman
Microscopie submicronique simultanée IR et Raman
Le premier système de microscopie simultanée IR + Raman au monde est une plate-forme unique à double modalité qui combine tous les avantages de l’O-PTIR avec la microscopie Raman complémentaire via la détection simultanée du laser à sonde visible.
Les spectres, les balayages linéaires et les cartes 2D peuvent désormais être collectés au même endroit au même moment, ouvrant ainsi de nouvelles possibilités de recherche et permettant une caractérisation plus approfondie de votre échantillon.
Spécifications
| Magnification | x20 ~ x150,000 (Effective :~ x80,000) |
|---|---|
| Accelerating Voltage | 1kV to 30kV |
| Electron Gun | Tungsten Filament(w) |
| Detector | SE Detector, BSE Detector, EDS |
| Stage |
X: 35mm (Motorized)，Y: 35mm (Motorized) T: 0 to 45° (Motorized)，R: 360° ，Z: 5 to 50mm(Manual) |
| Maximum Sample Size | 45mm (H)，60mm (Diameter) |
| Image Mode(pixel) |
· RDE (320x240), TV (640x480), Slow (800x600) · Photo (1280x960, 2560x1920, 5120x3840) |
| Frame Rate |
· RDE (MAX. 30 frames/sec) · TV (MAX. 10 frames/sec) · Slow (MAX. 2 frames/sec) |
| Vacuum System | Turbo Molecular Pump (Less than 3min) |
| Auto Functions | Auto Focus, Contrast, Brightness, |
| OS | · Windows7 |
EDS
| System Resolution | Mn K 133eV standard 129 eV premium |
|---|---|
| Chip Size | 30 mm² |
| Window | Si3N4 <100 nm thick |
| Cooling System | Peltier |
| Detection Range | Be to Am |
| X-ray Input | 1 Mcps/channel |
| Throughput (Stored Counts) | 300 kcps/channel |
| Peak To Background | 10,000 : 1 |
| Resolution Stability | 90% up to 200 kcps |
| eV/Channel | 10 eV/ch |
| Power Requirements |
· 5 W max - detector only · 10 W max - with DPP box |
| Input Voltage |
· 100 - 240 VAC. · 47 - 63 Hz |
Déverrouiller de nouvelles applications
Gauche: image optique avec une zone sélectionnée de 70 x 70 µm pour une imagerie Raman ultérieure (centre). Droite: spectres IR + Raman recueillis sur un globule rouge sélectionné (résolution ~ 500 nm).
Applications sur la microscopie
Électronique à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Spectroscopie infrarouge submicronique en secondes
Le nouveau système innovant de microscope infrarouge mirage fournit une spectroscopie infrarouge et une imagerie infrarouge submicroniques dans une large gamme d'applications. Utilisant une technique exclusive basée sur la spectroscopie O-PTIR, le mirage dépasse la limite de diffraction de la spectroscopie infrarouge traditionnelle et comble le fossé entre la microspectroscopie infrarouge classique et la spectroscopie infrarouge à l'échelle nanométrique.
Une technique optique sans contact rapide et facile à utiliser
mIRage surmonte la limite de diffraction IR avec une technique innovante, la spectroscopie optique photothermique à infrarouge (O-PTIR).
Un laser à infrarouge moyen pulsé accordable induit des effets photothermiques sur la surface d’un échantillon, mesurés à l’aide d’un laser à sonde visible focalisé sur l’échantillon. Les mesures sont recueillies de manière rapide et facile à utiliser, sans recourir à des techniques basées sur le contact, telles que la spectroscopie ATR.
Élimine le besoin de couches minces
Spectre de qualité de transmission FTIR en mode réflexion
mIRage fournit une spectroscopie infrarouge et une imagerie chimique, indépendamment de la longueur d'onde de l'infrarouge. En utilisant O-PTIR, les mesures IR hautement sensibles sont activées, permettant une absorption de la qualité de transmission sans contact avec la surface. Cela élimine le besoin d'échantillons minces et améliore les délais d'exécution.
Bone sample: Reflection mode IR Spectra and hyperspectral imaging 25 x 25 µm array, 500-nm spacing. Left: Single wavelength image (1058 cm-1) from Hyperspectral data set. Right: Single-pixel spectrum – 1s collection time
AVANTAGES
- Résolution spatiale sub-µm quelle que soit la longueur d'onde
- Spectroscopies IR et RAMAN en simultané
- Technique optique sans contact rapide et facile à utiliser
- Élimine le besoin de couches minces
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
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2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
- MEB haute résolution
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jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
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3. Fonctions automatiques
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luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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luminosité, alignement du canon à électron
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AVANTAGES
- MEB haute résolution
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jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
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- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste,
luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
AVANTAGES
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
1. MEB-EDS tout en un
2. Interface utilisateur intuitive
3. Fonctions automatiques
- Support échantillon motorisé selon 3 axes (X, Y, T)
- Mise au point automatique, contraste, luminosité, alignement du canon à électron
4. Taille maximum d'échantillon jusqu'à 60mm en diamètre et 45mm en hauteur
5. Grossissement de x20 à x150 000
6. Navigation facile avec le «Navigation Mode»
7. Contrôle précis avec un joystick et le «Driving Mode»
8. Détecteur BSE intégré et mode LV (Low Vacuum) disponible
Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Les applications comprennent aussi bien le processus de défaut, l’analyse dimensionnelle, le processus de caractérisation, la rétro ingénierie que l’identification de particule... c’est pourquoi les domaines d’applications sont multiples et très larges :
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Applications
sur la microscopie
Électronique
à balayage
_ Semi-conducteurs et électronique
_ Chimie
_ Métaux
_ Énergie
_ Automobile
_ Avionique
_ Construction
_ Corps humain
_ Médicaments pharmaceutiques
_ Plantes et animaux
_ Microbiologie
_ Science de l'environnement
Les applications comprennent aussi bien le processus de défaut, l’analyse dimensionnelle, le processus de caractérisation, la rétro ingénierie que l’identification de particule... c’est pourquoi les domaines d’applications sont multiples et très larges :
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
APPLICATIONS 1
- MEB haute résolution
- GROSSISSEMENT
jusqu’à x 150 000
- EDS haute performance
- Facile d'utilisation
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
Microscope MEB de table,
Solution complète MEB-EDS avancée
Cross polisher Option MEB
Cross polisher Option MEB
Cross polisher Option MEB
System specifications
| IR Spectral range | |
|---|---|
| Raman Spectral range | 900-200 cm-1 (c) |
| IR mode | ReflectionTransmission (d) |
| RAMAN mode | Reflection |
| Probe laser(mIRage/Raman) | 532 nm (e) |
| Stage minimum step size | 100 nm |
| Stage x-y travel range | 110x75 mm |
Accessoires
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