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Vous êtes ici : Accueil > Analyse de Surface > Microscopes à Force Atomique

Microscopes à Force Atomique (AFM)

CSInstruments, fabricant spécialisé dans la conception de microscopes à force atomique, vous propose de nombreuses solutions en AFM, telles que Nano-Observer, le meilleur AFM performance / prix et, depuis peu, le meilleur ensemble de mesures électriques AFM avec le système sMIM (Scanning Microwave Impedance Microscopy) associé au ResiScope II ( système capable de mesurer la résistance sur 10 décades) et le HD-KFM (KFM à un seul passage optimisé avec une sensibilité et une résolution supérieures).
En plus de ce pack mesure électrique, CSInstruments vous propose également différents modes d'environnements tels que la température, les mesures de liquide ou le contrôle de l'environnement et des accessoires AFM (pointes AFM...).

CSInstruments

 

Afm-microscope

Le Nano-Observer est un microscope AFM compact et puissant avec un scanner tout en un (numérisations de grande taille et haute résolution dans un seul scanner). Outre les modes standard, vous pouvez disposer de modes avancés et de fonctionnalités uniques telles que le HD-KFM, le ResiScope, le MLFM…

 

Nano-Observer I AFM >
Nano-Observer II AFM >

Oxford Instruments

Vero afm - product page image3 - white bg 463x401

Oxford Instruments is a leading provider of high technology products

 

MFP-3D Origin AFM >
Cypher S AFM Microscope >
Vero S: Interferometric AFM >
Jupiter XR AFM >

Galaxy Dual Controller
Compatible AFM : 5100/ 5500/ Multimode

Galaxy-dual-controller-csi

Le contrôleur GALAXY DUAL crée de nouvelles opportunités pour les utilisateurs d'AFM en combinant de nouvelles fonctionnalités avec celles déjà disponibles sur votre AFM existant.

Ce nouveau contrôleur offre plus qu'une seconde vie à votre AFM, il renouvelle et améliore ...

 

Galaxy Dual Controller>

Modes électriques
avancés

Microscope-afm-resiscope

1. HD-KFM : High Definition Kelvin Force Microscopy
2. ResiScope II : Courant/ Resistance sur 10 décades
3. Soft ResiScope : ResiScope sur échantillons délicats
5. sMIM : Cartographie permittivité et conductivité  au nm

 

 

 

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Environnements pour
Microscopie AFM 

Fibroblastes embryonnaires, mode oscillant, 80 µm

1. Contrôle de l'environnement : Gaz, humidité
2. Milieu liquide : Pas d'ajustement supplémentaire
3. Contrôle de température : De -35°C à 250°C

 

 

 

 

 

 

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Pointes
AFM

Pointe AFM

Large gamme de pointes AFM

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