Produit Analyse de surface, AFM, Mesure électrique, profilomètre, optique, mécanique, pointe AFM, Nano-Indentation,SNOM, FESEM
Analyse de surface
ok ok
Microscopie Electronique
à Balayage
Microscopie
à champs proche
Profilométries Optique 2D/3D Systèmes sous vide

Coxem

- EM-30AX Plus

- EM-30AX

- EM-30 Plus

- EM-30

- Options EDS

CSInstruments

- AFM Nano-Observer

- ResiScope II Mesure de courant
et résistance

 

Nanonics

- Microscopie SNOM

 

Accessoires

- Pointes AFM

KLA Tencor

- Interféromètre

 Toho Technology

- Mesure de stress

 Sensofar

- Interféromètre

- Interféromètre/confocal

- Inspection of stents

Lyncee Tec

- Holographie 3D dynamique

- MemsTool

- Réfléctomètre

Filmetrics

- Profilomètre optique


Accossoires

- Marches étalon

 

 

Prevac

- Ultra High Vacuum systems

- Manipulators, goniometer...

- Chamber
- Sample holders

- Instruments

- Accessories

- Electronics

- Software




 

 

profilométrie-mécanique ok ok
Profilométries
Mécanique
Nano-Indentation
Couches minces
Spectroscopie

KLA Tencor

- Profilomètres

Toho Technology

- Profilomètres échantillon large

Accossoires

- Marches étalon

 

Nanomechanics

- Indentation In-Situ

- Nano-Indenteur iNano (ambiant)

- Nano-Indenteur iMicro

- Nano-Indenteur (ambient&vacuum)

 

Filmetrics

- Mesure spectrale

- Mesure d'épaisseur

- Constante optiques






Anasys Instruments

- mIRage (sub-µm IR
spectroscopy)

- NanoIR2-FS (AFM-IR)

- NanoIR2-s (AFM-IR+SNOM)

 

S&I

- Monovista

- triple spectrometer