F20 - mesure de couche mince

F20 - Systèmes de mesure de couches minces


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L’épaisseur et les constantes optiques (n et k) sont facilement et rapidement mesurées grâce au système de spectrométrie avancée F-20. L’analyse spectrale de la réflectance par le dessus ou le dessous de la couche mince fournit l’épaisseur, l’index de réfraction et le coefficient d’extinction en moins d’une seconde. Le système informatique s’installe en quelques minutes et le logiciel est très simple à utiliser.
Le F-20 inclut tout le nécessaire pour effectuer les mesures : un spectromètre, une source de lumière, une fibre optique, un plateau pour échantillon et un logiciel de traitement (compatible Windows™) à installer sur votre ordinateur.


Caractéristiques :
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Applications :
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